Rozporządzenie rady (WE) nr 149/2003 z dnia 27 stycznia 2003 r zmieniające I aktualizujące rozporządzenie (WE) nr 1334/2000 ustanawiające wspólnotowy system kontroli wywozu produktów I technologii podwójnego zastosowania



Pobieranie 1.75 Mb.
Strona10/15
Data29.04.2016
Rozmiar1.75 Mb.
1   ...   7   8   9   10   11   12   13   14   15

5E2 Technologia
5E002 „Technologie” według uwagi ogólnej do technologii, opracowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń lub „oprogramowania” określonego w pozycjach 5A002, 5B002 lub 5D002.

KATEGORIA 6
CZUJNIKI I LASERY
6A Systemy, urządzenia i części
6A001 Akustyczne:

a. Następujące okrętowe systemy akustyczne, urządzenia oraz specjalnie do nich zaprojektowane następujące części:


1. Aktywne systemy (nadajniki albo nadajniki - odbiorniki), urządzenia lub specjalnie do nich zaprojektowane części:
Uwaga: Pozycja 6A001.a.1. nie obejmuje kontrolą:
a. Sond do pomiaru głębokości pracujących w pionie pod aparaturą, niemających możliwości przeszukiwania w zakresie powyżej ± 20°, których działanie jest ograniczone do pomiaru głębokości wody, odległości do zanurzonych lub zatopionych obiektów lub do wykrywania ławic ryb;
b. Następujących pław lub staw akustycznych:
1. Akustycznych pław lub staw ostrzegawczych;
2. Sonarów impulsowych specjalnie przeznaczonych do przemieszczenia się lub powrotu do położenia podwodnego.
a. Systemy o szerokim zakresie przeszukiwania przeznaczone do badań batymetrycznych w celu sporządzania map topograficznych dna morskiego, posiadające wszystkie następujące właściwości:
1. Przeznaczenie do dokonywania pomiarów pod kątem większym od 20° w stosunku do pionu;
2. Przeznaczenie do pomiarów głębokości większych niż 600 m, licząc od powierzchni wody; oraz
3. Opracowane do realizacji jednej z poniższych funkcji:
a. Wprowadzanie wielu wiązek, z których co najmniej jedna ma rozwartość kąta poniżej 1,9°; lub
b. Uzyskiwanie średniej dokładności danych głębokości wody na przeszukiwanym obszarze w odniesieniu do poszczególnych pomiarów lepszej niż 0,3%;
b. Systemy do wykrywania lub lokalizacji obiektów posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
1. Częstotliwość nośna poniżej 10 kHz;
2. Poziom ciśnienia akustycznego przekraczający 224 dB (co odpowiada 1 μPa na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie 10-24 kHz włącznie;
3. Poziom ciśnienia akustycznego przekraczający 235 dB (co odpowiada 1 μPa na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie 24-30 kHz;
4. Kształtujące wiązki o kącie rozproszenia poniżej 1° względem dowolnej osi i posiadające częstotliwość roboczą poniżej 100 kHz;
5. Umożliwiające jednoznaczny pomiar odległości do obiektów w zakresie powyżej 5 120 m; lub
6. Zaprojektowane w ten sposób, że w normalnych warunkach pracy są wytrzymałe na ciśnienia na głębokości większej niż 1 000 m i są zaopatrzone w przetworniki:
a. Z dynamiczną kompensacją ciśnienia; lub
b. W których elementem przetwarzającym nie jest cyrkonian / tytanian ołowiu;
c. Reflektory akustyczne, włącznie z przetwornikami, wyposażone w elementy piezoelektryczne, magnetostrykcyjne, elektrostrykcyjne, elektrodynamiczne lub hydrauliczne, działające indywidualnie lub w odpowiedniej kombinacji, posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
Uwaga 1: Status kontroli reflektorów akustycznych, włącznie z przetwornikami, specjalnie przeznaczonych do innych urządzeń, jest uzależniony od statusu kontroli tych innych urządzeń.
Uwaga 2: Pozycja 6A001.a.1.c. nie obejmuje kontroli elektronicznych źródeł kierujących dźwięk tylko w pionie ani źródeł mechanicznych (np. pistolety powietrzne lub parowe) lub chemicznych (np. materiały wybuchowe).
1. ‘Gęstość mocy akustycznej’ w impulsie przekraczająca 0,01 mW/mm2/Hz dla urządzeń pracujących w paśmie częstotliwości poniżej 10 kHz;
2. ‘Gęstość mocy akustycznej’ ciągłej przekraczająca 0,001 mW/mm2/Hz dla urządzeń pracujących w paśmie częstotliwości poniżej 10 kHz; lub
Uwaga techniczna:
Gęstość mocy akustycznejoblicza się dzieląc wyjściową moc akustyczną przez iloczyn pola powierzchni wypromieniowanej wiązki i częstotliwości roboczej.
3. Posiadające tłumienie listka bocznego emisji przekraczające 22 dB;
d. Systemy akustyczne, urządzenia lub elementy specjalnie przeznaczone do określania położenia statków nawodnych lub pojazdów podwodnych skonstruowane z przeznaczeniem do działania w zasięgu powyżej 1 000 m i umożliwiające wyznaczanie położenia z dokładnością poniżej 10 m (wartość średnia kwadratowa) w przypadku pomiaru w zasięgu do 1 000 m;
Uwaga: Pozycja 6A001.a.1.d. obejmuje:
a. Urządzenia, wykorzystujące koherentne „przetwarzanie sygnałów” między dwiema lub większą liczbą boi kierunkowych a hydrofonem na statku nawodnym lub pojeździe podwodnym;
b. Urządzenia posiadające możliwość automatycznego korygowania błędów prędkości rozchodzenia się dźwięku w celu obliczenia położenia obiektu.
2. Pasywne (odbiorcze, współpracujące, albo nie, w normalnych zastosowaniach z oddzielnymi urządzeniami aktywnymi) urządzenia i systemy oraz specjalnie do nich zaprojektowane części:
a. Hydrofony (przetworniki) posiadające którąkolwiek z następujących właściwości:
Uwaga: Status kontroli hydrofonów specjalnie zaprojektowanych do innych urządzeń, wynika ze statusu kontroli tych innych urządzeń.
1. Zawierające ciągłe, elastyczne czujniki lub zespoły złożone z nieciągłych elementów czujnikowych o średnicy lub długości poniżej 20 mm znajdujących się w odległości jeden od drugiego wynoszącej poniżej 20 mm;
2. Posiadające jakikolwiek z następujących elementów czujnikowych:
a. Światłowody; lub
b. Elastyczne, piezoelektryczne materiały ceramiczne;
3. ‘Czułość hydrofonów’ lepszą niż -180 dB na każdej głębokości bez kompensacji przyspieszeniowej;
4. W przypadku przeznaczenia do pracy na głębokościach nie większych niż 35 m, z kompensacją przyspieszeniową; lub
5. Przeznaczone do działania na głębokościach większych niż 1 000 m;
Uwaga techniczna:
Czułość hydrofonu’ definiuje się jako dwudziestokrotność logarytmów przy podstawie 10 ze stosunku napięcia skutecznego po sprowadzeniu do napięcia skutecznego 1 V, po umieszczeniu czujnika hydrofonowego, bez przedwzmacniacza, w polu akustycznych fal płaskich o ciśnieniu skutecznym 1 µPa. Na przykład, hydrofon o czułości -160 dB (po sprowadzeniu do poziomu 1 V na µPa) daje w takim polu napięcie wyjściowe 10-8  V, natomiast hydrofon o czułości -180 dB daje w takim samym polu napięcie wyjściowe tylko 10-9 V. Zatem hydrofon o czułości -160 dB jest lepszy od hydrofonu o czułości -180 dB.
b. Holowane zestawy matrycowe hydrofonów akustycznych, posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
1. Odległość między grupami hydrofonów wynosi mniej niż 12,5 m;
2. Zaprojektowane albo ‘możliwe do zmodyfikowania’ z przeznaczeniem do działania na głębokościach większych niż 35 m;
Uwaga techniczna:
Wspomniana w pozycji 6A001.a.2.b.2. ‘możliwość modyfikacji’ oznacza, że są zaopatrzone w elementy umożliwiające zmianę przewodów lub połączeń w celu zmiany odległości między grupami hydrofonów albo granicznych głębokości roboczych. Do elementów takich zalicza się: zapasowe przewody w ilości przewyższającej o 10% liczbę przewodów używanych, bloki umożliwiające zmianę odległości między grupami hydrofonów lub wewnętrzne regulowane urządzenia limitujące głębokość lub urządzenia sterujące umożliwiające sterowanie więcej niż jedną grupą hydrofonów.
3. Czujniki kursowe określone w pozycji 6A001.a.2.d.;
4. Sieci węży ze wzmocnieniem podłużnym;
5. Układ zespołowy o średnicy mniejszej niż 40 mm;
6. Możliwość multipleksowania sygnałów grup hydrofonów i przeznaczenie do działania na głębokościach większych niż 35 m albo wyposażenie w regulowane lub demontowalne czujniki głębokości z przeznaczeniem do pracy na głębokościach większych niż 35 m; lub
7. Właściwości hydrofonów określonych w pozycji 6A001.a.2.a.;
c. Urządzenia przetwarzające, specjalnie przeznaczone do holowanych zestawów hydrofonów akustycznych posiadające „możliwość dostępu użytkownika do oprogramowania” oraz możliwość przetwarzania i korelacji w funkcji czasu lub częstotliwości, włącznie z analizą spektralną, filtrowaniem cyfrowym i kształtowaniem wiązki za pomocą szybkiego przekształcania Fouriera lub innych przekształceń lub procesów;
d. Czujniki kursowe posiadające wszystkie z poniższych właściwości:
1. Dokładność powyżej ± 0,5°; oraz
2. Przeznaczone do pracy na głębokościach większych, niż 35 m lub wyposażone w regulowane lub demontowalne czujniki głębokości z przeznaczeniem do pracy na głębokościach większych niż 35 m;
e. Denne lub przybrzeżne układy kablowe posiadające jakąkolwiek z poniższych właściwości:
1. Zawierające hydrofony określone w pozycji 6A001.a.2.a.; lub
2. Zawierające moduły multipleksowe sygnałów grup hydrofonów, posiadające wszystkie następujące właściwości:
a. Przeznaczone do działania na głębokości poniżej 35 m lub wyposażone w regulowane lub demontowalne czujniki głębokości, aby mogły działać na głębokości poniżej 35 m; oraz
b. Mogące pracować wymiennie z modułami holowanych zestawów hydrofonów akustycznych.
f. Urządzenia przetwarzające, specjalnie przeznaczone do kablowych układów dennych lub międzywręgowych, posiadające „programowalność dostępną dla użytkownika” oraz przetwarzanie i korelację w dziedzinie czasu lub częstotliwości, w tym analizę widmową oraz cyfrowe kształtowanie wiązki za pomocą szybkiego przekształcenia Fouriera lub innych przekształceń lub procesów;
b. Urządzenia sonarowe z korelacją prędkościową przeznaczone do pomiaru prędkości poziomej obiektu, na którym się znajdują, względem dna morza w przypadku odległości obiektu od dna powyżej 500 m.
6A002 Czujniki optyczne
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 6A102.
a. Następujące detektory optyczne:
Uwaga: Pozycja 6A002.a. nie obejmuje kontrolą elementów fotoelektrycznych wykonanych z germanu lub krzemu.
1. Następujące detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej”:
a. Detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” posiadające wszystkie z następujących właściwości:
1. Reakcja szczytowa w paśmie fal o długości powyżej 10 nm, ale poniżej 300 nm; oraz
2. W zakresie fal o długości powyżej 400 nm reakcja słabsza niż 0,1% reakcji szczytowej;
b. Detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” posiadające wszystkie z następujących właściwości:
1. Reakcja szczytowa w zakresie długości fal przekraczającym 900 nm, ale poniżej 1 200 nm; oraz
2. „Stała czasowa” reakcji 95 ns lub poniżej;
c. Detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” posiadające reakcję szczytową w zakresie długości fal powyżej 1 200 nm, ale poniżej 30 000 nm;
2. Następujące lampy wzmacniające obrazy i specjalnie do nich przeznaczone części:
a. Lampy wzmacniające obrazy posiadające wszystkie następujące właściwości:
1. Reakcja szczytowa w zakresie długości fal przekraczającym 400 nm, ale poniżej 1 050 nm;
2. Elektroda mikrokanalikowa do wzmacniania obrazów elektronicznych z otworkami w odstępach (odległość między środkami otworków) poniżej 12 µm; oraz
3. Następujące fotokatody:
a. Fotokatody S-20 i S-25 lub alkaliczne (wielopierwiastkowe) o czułości świetlnej przekraczającej 350 µA/lm;
b. Fotokatody GaAs lub GaInAs; lub
c. Inne fotokatody półprzewodnikowe związków III-V.
Uwaga: Pozycja 6A002.a.2.a.3.c. nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych o maksymalnej czułości promieniowania 10 mA/W lub mniej.
b. Następujące specjalnie przeznaczone części:
1. Elektrody mikrokanalikowe posiadające otworki w odstępach z otworkami w odstępach (odległość między środkami otworków) równych lub mniejszych 12 µm;
2. Fotokatody GaAs lub GaInAs;
3. Inne fotokatody półprzewodnikowe związków III-V.
Uwaga: Pozycja 6A002.a.2.b.3. nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych o maksymalnej czułości promieniowania 10 mA/W lub mniej.
3. Następujące „płaskie zespoły ogniskujące”, inne niż „klasy kosmicznej”:
Uwagi techniczne:
1. „Płaskie zespoły ogniskujące” określane są jako dwuwymiarowe wieloelementowe zespoły czujników;
2. Do celów 6A002.a.3. ‘krzyżowy kierunek skanowania’ definiuje się jako oś równoległa do linii ogniskującej elementy detektora, a ‘kierunek skanowania’ definiuje się jako oś prostopadła do linii ogniskującej elementy detektora.
Uwaga 1: Pozycja 6A002.a.3. obejmuje kontrolą zespoły fotoprzewodzące i fotowoltaiczne.
Uwaga 2: Pozycja 6A002.a.3. nie obejmuje kontrolą:
a. Krzemowych „płaskich zespołów ogniskujących”;
b. Wieloelementowych (nie więcej niż 16 elementów) komórek fotoelektrycznych w obudowie, zawierających siarczek lub selenek cynku;
c. Detektorów piroelektrycznych, w których zastosowano jeden z następujących związków:
1. Siarczan triglicyny i jego odmiany;
2. Tytanian ołowiu-lantanu-cyrkonu i odmiany;
3. Tantalan litu;
4. Polifluorek winylidenu i jego odmiany; lub
5. Niobian strontu-baru i jego odmiany;
a. „Płaskie zespoły ogniskujące” Inne niż „klasy kosmicznej” posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości::
1. Pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 900 nm, ale poniżej 1 050 nm; oraz
2. „Stałej czasowej” reakcji poniżej 0,5 ns;
b. „Płaskie zespoły ogniskujące” inne niż „klasy kosmicznej”, posiadające wszystkie następujące właściwości:
1. Pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału przekraczającego 1 050 nm, ale poniżej 1 200 nm; oraz
2. „Stała czasowa” reakcji 95 ns lub mniej;
c. „Płaskie zespoły ogniskujące” inne niż „klasy kosmicznej”, posiadające reakcję szczytową poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału przekraczającego 1 200 nm, ale poniżej 30 000 nm;
d. Inne niż „klasy kosmicznej” liniowe (1- wymiarowe) „płaskie zespoły ogniskujące”, posiadające wszystkie z następujących właściwości:
1. Pojedyncze elementy reakcji szczytowej w zakresie długości fal przekraczającej 1 200 nm ale nie przekraczającej 2 500 nm; oraz
2. Którekolwiek z następujących:
a. stosunek wymiaru kierunku skanowania elementu detektora do wymiaru kierunku skanowania krzyżowego, mniejszy niż 3,8; lub
b. przetwarzanie sygnału w elemencie (SPRITE);
e. Inne niż „klasy kosmicznej” liniowe (1- wymiarowe) „płaskie zespoły ogniskujące”, posiadające pojedyncze elementy reakcji szczytowej w zakresie długości fal przekraczającej 2 500 nm ale nie przekraczającej 30 000 nm;
b. „Monospektralne czujniki obrazowe” i „wielospektralne czujniki obrazowe” zaprojektowane do zdalnego wykrywania obiektów, posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
1. Chwilowe pole widzenia (IFOV) poniżej 200 µrad; lub
2. Przeznaczenie do działania w zakresie fal o długości przekraczającej 400 nm, ale poniżej 30 000 nm oraz jednocześnie:
a. Dostarczanie wyjściowych danych obrazowych w postaci cyfrowej; oraz
b. Spełnianie jednego z warunków:
1. Posiadanie „klasy kosmicznej”; lub
2. Przeznaczenie do zastosowań lotniczych i zaopatrzenie w czujniki inne niż krzemowe oraz posiadające IFOV poniżej 2,5 miliradianów;
c. ‘Urządzenia do bezpośredniego tworzenia obrazów’ działające w zakresie promieniowania widzialnego lub podczerwonego wyposażone w jeden z następujących zespołów:
1. Lampy do wzmacniania obrazów określone w pozycji 6A002.a.2.a.; lub
2. „Płaskie zespoły ogniskujące” określone w pozycji 6A002.a.3.
Uwaga techniczna:
Termin ‘widzenie bezpośrednie’ odnosi się do urządzeń tworzących obrazy, działających w zakresie fal widzialnych lub podczerwonych i przedstawiających widzialny dla człowieka obraz bez jego przetwarzania na sygnał elektroniczny przekazywany na ekran telewizyjny, niemogących zarejestrować albo przechować obrazu na drodze fotograficznej, elektronicznej albo jakiejkolwiek innej.
Uwaga: Pozycja 6A002.c. nie obejmuje kontroli następujących urządzeń zaopatrzonych w fotokatody inne niż z GaAs lub GaInAs:
a. Przemysłowych lub cywilnych systemów alarmowych, systemów kontroli ruchu drogowego lub przemysłowego ani systemów zliczających;
b. Urządzeń medycznych;
c. Urządzeń przemysłowych stosowanych do kontroli, sortowania lub analizy właściwości materiałów;
d. Wykrywaczy płomieni do pieców przemysłowych;
e. Urządzeń specjalnie przeznaczonych do użytku laboratoryjnego.
d. Następujące specjalne elementy pomocnicze do czujników optycznych:
1. Chłodnice kriogeniczne „klasy kosmicznej”:
2. Następujące chłodnice kriogeniczne nienależące do „klasy kosmicznej”, posiadające źródło chłodzenia o temperaturze poniżej 218 K (-55 °C),
a. Pracujące w obiegu zamkniętym i charakteryzujące się średnim czasem do awarii (MTTF) lub średnim czasem międzyawaryjnym (MTBF) powyżej 2 500 godzin;
b. Samoregulujące się minichłodnice Joula-Thomsona (JT) z otworkami o średnicy (na zewnątrz) poniżej 8 mm;
3. Czujnikowe włókna optyczne o specjalnym składzie albo konstrukcji, albo zmodyfikowane techniką powlekania, w celu nadania im właściwości umożliwiających reagowanie na fale akustyczne, promieniowanie termiczne, siły bezwładności, promieniowanie elektromagnetyczne lub jądrowe.
e. „Płaskie zespoły ogniskujące” „klasy kosmicznej” mające więcej niż 2 048 elementów na zespół i reakcję szczytową w paśmie fal o długości powyżej 300 nm, ale poniżej 900 nm.
6A003 Kamery
UWAGA: PATRZ TAKŻE POZYCJA 6A203.
Uwaga: Dla kamer specjalnie przeznaczonych lub zmodyfikowanych do zastosowań podwodnych patrz także pozycje 8A002.d. i 8A002.e.
a. Następujące kamery rejestrujące oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy:
Uwaga: Kamery rejestrujące, określone w pozycjach 6A003.a.3.-6A003.a.5., o budowie modułowej powinny być oceniane wg ich maksymalnych możliwości przy wykorzystaniu „zespołów wtykanych” zgodnie ze specyfikacjami producenta.
1. Bardzo szybkie kamery rejestrujące na błonie dowolnego formatu 8-16 mm włącznie, w których błona podczas rejestracji jest przesuwana w sposób ciągły, umożliwiające rejestrowanie obrazów z szybkościami przekraczającymi 13 150 klatek/s;
Uwaga: Pozycja 6A003.a.1. nie obejmuje kontrolą filmowych kamer rejestrujących przeznaczonych do normalnego użytku cywilnego.
2. Bardzo szybkie kamery z napędem mechanicznym, bez przesuwu filmu, umożliwiające rejestrację z szybkościami przekraczającymi 1 000 000 klatek/s na całej szerokości błony 35 mm, lub z szybkościami proporcjonalnie większymi na błonach o mniejszych formatach, lub z szybkościami proporcjonalnie mniejszymi na błonach o formatach większych;
3. Mechaniczne lub elektryczne kamery smugowe o szybkości zapisu przekraczającej 10 mm/µs;
4. Elektroniczne kamery obrazowe o szybkości przekraczającej 1 000 000 klatek/s;
5. Kamery elektroniczne posiadające wszystkie następujące właściwości:
a. Szybkość działania migawki elektronicznej (bramkowania) poniżej 1 mikrosekundy na pełną klatkę; oraz
b. Czas odczytu umożliwiający szybkość przekraczającą 125 pełnych klatek na sekundę;
6. Zespoły wtykane posiadające wszystkie z następujących właściwości:
a. Specjalnie zaprojektowane do kamer rejestrujących, które mają modułową strukturę i które zostały określone w pozycji 6A003.a.; oraz
b. Umożliwiające tym kamerom realizowanie właściwości określonych w pozycjach 6A003.a.3., 6A003.a.4. lub 6A003.a.5., zgodnie ze specyfikacjami producenta.
b. Następujące kamery obrazowe:
Uwaga: Pozycja 6A003.b. nie obejmuje kontrolą kamer telewizyjnych ani wideokamer przeznaczonych specjalnie dla stacji telewizyjnych.
1. Wideokamery z czujnikami półprzewodnikowymi, o szczytowej skuteczności zasięgu długości fali przekraczającej 10 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm, posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
a. Powyżej 4 × 106 „aktywnych pikseli” na półprzewodnikową siatkę dla kamer monochromatycznych (czarno - białych);
b. Powyżej 4 × 106 „aktywnych pikseli” na półprzewodnikową siatkę dla kamer kolorowych z trzema siatkami półprzewodnikowymi; lub
c. Powyżej 12 × 106 „aktywnych pikseli” na półprzewodnikową siatkę dla kamer kolorowych z jedną siatką półprzewodnikową;
Uwaga techniczna:
Do celów niniejszego punktu, wideokamery cyfrowe powinny być oceniane na podstawie maksymalnej liczby „aktywnych pikseli” wykorzystywanych do rejestrowania obrazów ruchomych.
2. Kamery skaningowe i systemy kamer skaningowych posiadające wszystkie z następujących właściwości:
a. Szczytową skuteczność zasięgu długości fali przekraczającą 10 nm, ale nieprzekraczającą 30 000 nm
b. Liniowe siatki detekcyjne posiadające powyżej 8 192 elementów na siatkę; oraz
c. Mechaniczne przeszukiwanie w jednym kierunku;
3. Kamery obrazowe wyposażone we wzmacniacze obrazów określone w pozycji 6A002.a.2.a.;
4. Kamery obrazowe wyposażone w płaskie siatki ogniskujące określone w pozycji 6A002.a.3.
Uwaga: Pozycja 6A003.b.4. nie obejmuje kontrolą kamer obrazowych wykorzystujących liniowe „płaskie zespoły ogniskowe” o 12 lub mniej elementach, nieposiadających w elementach opóźnienia czasowego i całkowania, przeznaczonych do następujących zastosowań:
a. Przemysłowe lub cywilne alarmy włamaniowe, kontrola ruchu na drogach lub w przemyśle, systemy zliczające;
b. Urządzenia przemysłowe stosowane do nadzoru lub monitorowania wypływu ciepła w budynkach, urządzeniach lub procesach przemysłowych;
c. Urządzenia przemysłowe stosowane do nadzoru, sortowania lub analizy właściwości materiałów;
d. Urządzenia specjalnie przeznaczone do użytku laboratoryjnego; lub
e. Urządzenia medyczne.
6A004 Elementy optyczne
a. Następujące zwierciadła optyczne (reflektory):
1. „Zwierciadła odkształcalne” o powierzchni ciągłej lub wieloelementowej oraz specjalnie do nich opracowane elementy, posiadające możliwość dynamicznej zmiany położenia części powierzchni zwierciadła z szybkością powyżej 100 Hz;
2. Lekkie zwierciadła monolityczne o przeciętnej „gęstości zastępczej” poniżej 30 kg/m2 i masie całkowitej powyżej 10 kg;
3. Lekkie konstrukcje zwierciadlane z materiałów „kompozytowych” lub spienionych o przeciętnej „gęstości zastępczej” poniżej 30 kg/m2 i masie całkowitej powyżej 2 kg;
4. Zwierciadła do kierowania wiązką, mające średnicę lub długość osi głównej powyżej 100 mm, zachowujące płaskość rzędu lambda/2 lub lepszą (lambda jest równe 633 nm) i sterowane wiązką o szerokości pasma powyżej 100 Hz;
b. Elementy optyczne z selenku cynku (ZnSe) lub siarczku cynku (ZnS) z możliwością transmisji w zakresie długości fal powyżej 3 000 nm, ale poniżej 25 000 nm i posiadające jakąkolwiek z następujących właściwości:
1. Objętość powyżej 100 cm3; lub
2. Średnicę lub długość osi głównej powyżej 80 mm oraz grubość (głębokość) powyżej 20 mm;
c. Następujące elementy „klasy kosmicznej” do systemów optycznych:
1. O „gęstości zastępczej” obniżonej o 20% w porównaniu z półwyrobem o takiej samej aperturze i grubości;
2. Podłoża surowe, podłoża powlekane powierzchniowo (z powłoką jednowarstwową lub wielowarstwową, metaliczną lub dielektryczną, przewodzącą, półprzewodzącą lub izolującą) lub pokryte błoną ochronną;
3. Segmenty lub zespoły zwierciadeł przeznaczone do montażu z nich w przestrzeni kosmicznej systemów optycznych, posiadające sumaryczną aperturę równoważną lub większą niż pojedynczy element optyczny o średnicy 1 m;
4. Wykonane z materiałów „kompozytowych” o współczynniku liniowej rozszerzalności termicznej w kierunku dowolnej współrzędnej równym lub mniejszym niż 5 × 10-6;
d. Następujące urządzenia do sterowania elementami optycznymi:
1. Urządzenia specjalnie przeznaczone do utrzymywania kształtu lub orientacji powierzchni elementów „klasy kosmicznej” określonych w pozycji 6A004.c.1. lub 6A004.c.3.;
2. Urządzenia posiadające pasmo sterowania, śledzenia, stabilizacji lub strojenia rezonatora o szerokości równej lub większej niż 100 Hz oraz dokładność 10 μrad (mikroradianów) lub mniej;
3. Zawieszenia kardanowe posiadające wszystkie następujące właściwości:
a. Maksymalny kąt wychylenia przekraczający 5°;
b. Szerokość pasma równą lub większą niż 100 Hz;
c. Możliwość ustawiania kątowego z dokładnością równą lub lepszą niż 200 μrad (mikroradianów); oraz
d. Jeden z następujących parametrów:
1. Średnicę lub długość osi głównej przekraczającą 0,15 m, ale nie większą niż 1 m i możliwość zmiany położenia kątowego z przyspieszeniami powyżej 2 rad (radianów)/s2; lub
2. Średnicę lub długość osi głównej powyżej 1 m i możliwość zmiany położenia kątowego z przyspieszeniami powyżej 0,5 rad (radianów)/s2;
4. Urządzenia specjalnie przeznaczone do utrzymywania w odpowiednim położeniu systemów układów fazowanych lub systemów fazowanych zwierciadeł segmentowych o średnicy segmentów lub długości osi głównej równej lub większej od 1 m;
e. ‘Asferyczne elementy optyczne’, posiadające następujące właściwości:
1. Największy wymiar apertury optycznej jest większy niż 400 mm;
2. Nierówność powierzchni jest mniejsza niż 1 nm (średnia wartość kwadratowa) dla długości próbkowania równej lub większej niż 1 mm; oraz
3. Wartość absolutna współczynnika liniowej rozszerzalności termicznej jest mniejsza niż 3 × 10-6/K przy 25 °C.
Uwagi techniczne:
1. ‘Elementem asferycznym’ jest każdy element, wykorzystywany w systemach optycznych, którego powierzchnia lub powierzchnie czynne są opracowane jako odbiegające od kształtu idealnej sfery.
2. Producenci nie są zobowiązani do przeprowadzania pomiaru nierówności określonego w pozycji 6A004.e., jeżeli element optyczny nie został zaprojektowany lub wytworzony z zamiarem dotrzymania lub przekroczenia parametru kontrolnego.
Uwaga: Pozycja 6A004.e.2. nie obejmuje kontroli asferycznych elementów optycznych posiadających którąkolwiek z następujących właściwości:
a. Największy wymiar apertury optycznej mniejszy niż 1 m i stosunek długości ogniskowej do apertury równy lub większy niż 4,5:1;
b. Największy wymiar apertury optycznej równy lub większy niż 1 m i stosunek długości ogniskowej do apertury równy lub większy niż 7:1;
c. Zaprojektowany jako element Fresnela, oko muchy, pasek, pryzmat lub element dyfrakcyjny;
d. Wykonany ze szkła borokrzemowego posiadającego współczynnik rozszerzalności liniowej większy niż 2,5 × 10-6/K przy 25 °C; lub
e. Będący elementem optyki rentgenowskiej, mającym właściwości zwierciadła wewnętrznego (np. zwierciadła typu rurowego).
Uwaga: W odniesieniu do elementów asferycznych specjalnie zaprojektowanych dla urządzeń litograficznych, patrz pozycja 3B001.
6A005 Następujące „lasery”, ich elementy i urządzenia optyczne do nich, inne niż określone w pozycjach 0B001.g.5. lub 0B001.h.6.:
: enlargement -> ccvista
ccvista -> Rozporządzenie komisji (WE) nr 1607/2003 z dnia 12 września 2003 r zmieniające po raz dwudziesty drugi rozporządzenie Rady (WE) nr 881/2002 wprowadzające niektóre
ccvista -> Rozporządzenie komisji (WE) nr 1724/2003 z dnia 29 września 2003 r zmieniające po raz dwudziesty trzeci rozporządzenie Rady (WE) nr 881/2002 wprowadzające niektóre
ccvista -> ProtokóŁ dotyczący współpracy w zwalczaniu zanieczyszczenia Morza Śródziemnego olejami I innymi substancjami szkodliwymi w nagłych przypadkach
ccvista -> Uzgodniony protokóŁ nr 5
ccvista -> Decyzja komisji
ccvista -> Decyzja komisji
ccvista -> Decyzja komisji
ccvista -> Rozporządzenie rady (WE) nr 1470/2001 z dnia 16 lipca 2001 r nakładające ostateczne cło antydumpingowe I stanowiące o ostatecznym poborze cła tymczasowego nałożonego na przywóz świetlówek kompaktowych ze scaloną elektroniką (cfl)
ccvista -> Rozporządzenie komisji (WE) nr 2593/2001 z dnia 28 grudnia 2001 r zmieniające rozporządzenie (WE) nr 909/2001 w odniesieniu do rejestrowania przywozu glifosatu wytwarzanego przez jednego malezyjskiego I jednego tajwańskiego producenta dokonującego
ccvista -> Decyzja komisji

Pobieranie 1.75 Mb.

1   ...   7   8   9   10   11   12   13   14   15




©absta.pl 2020
wyślij wiadomość

    Strona główna