Unii europejskiej



Pobieranie 1.57 Mb.
Strona12/18
Data29.04.2016
Rozmiar1.57 Mb.
1   ...   8   9   10   11   12   13   14   15   ...   18

KATEGORIA 6

CZUJNIKI I LASERY

6ASystemy, urządzenia i części

6A001Czujniki akustyczne.

a. Następujące okrętowe systemy akustyczne, urządzenia albo specjalnie do nich przeznaczone elementy:

1. Następujące systemy aktywne (nadajniki albo nadajniki-odbiorniki), urządzenia i specjalnie do nich przeznaczone elementy:



Uwaga: Pozycja 6A001.a.1 nie obejmuje kontrolą:

a.sond do pomiaru głębokości pracujących w pionie pod aparaturą, niemających możliwości przeszukiwania w zakresie powyżej ± 20°, których działanie jest ograniczone do pomiaru głębokości wody, odległości do zanurzonych lub zatopionych obiektów albo do wykrywania ławic ryb;

b.następujących pław lub staw akustycznych:

1.akustycznych pław lub staw ostrzegawczych;

2.sonarów impulsowych specjalnie przeznaczonych do przemieszczenia się lub powrotu do położenia podwodnego.

a. Systemy o szerokim zakresie przeszukiwania przeznaczone do badań batymetrycznych w celu sporządzania map topograficznych dna morskiego, mające wszystkie poniższe cechy charakterystyczne:

1. Przeznaczenie do dokonywania pomiarów pod kątem większym od 20° w stosunku do pionu;

2. Przeznaczenie do pomiarów głębokości większych niż 600 m, licząc od powierzchni wody; oraz

3. Przeznaczenie do realizacji jednej z poniższych funkcji:

a. Wprowadzanie wielu wiązek, z których co najmniej jedna ma rozwartość kątową poniżej 1,9°; lub

b. Uzyskiwanie przeciętnej dokładności pomiarów głębokości wody na przeszukiwanym obszarze w odniesieniu do poszczególnych pomiarów lepszej niż 0,3 %;

b. Systemy do wykrywania lub lokalizacji obiektów posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Częstotliwość nośna poniżej 10 kHz;

2. Poziom ciśnienia akustycznego powyżej 224 dB (co odpowiada 1 mikropaskalowi na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie od 10 kHz do 24 kHz włącznie;

3. Poziom ciśnienia akustycznego powyżej 235 dB (co odpowiada 1 mikropaskalowi na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie od 24 kHz do 30 kHz;

4. Kształtujące wiązki o kącie rozproszenia poniżej 1° względem dowolnej osi i posiadające częstotliwość roboczą poniżej 100 kHz;

5. Umożliwiające jednoznaczny pomiar odległości do obiektów w zakresie powyżej 5120 m; lub

6. Skonstruowane w ten sposób, że w normalnych warunkach pracy są wytrzymałe na ciśnienia na głębokości większej niż 1000 m i są zaopatrzone w przetworniki:

a. Z dynamiczną kompensacją ciśnienia; lub

b. W których elementem przetwarzającym nie jest cyrkonian/tytanian ołowiu;

c. Reflektory akustyczne, włącznie z przetwornikami, wyposażone w elementy piezoelektryczne, magnetostrykcyjne, elektrostrykcyjne, elektrodynamiczne lub hydrauliczne, działające indywidualnie lub w odpowiedniej kombinacji zespołowej, posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

Uwaga 1: Status kontroli reflektorów akustycznych, włącznie z przetwornikami, specjalnie przeznaczonych do innych urządzeń, wynika ze statusu kontroli tych innych urządzeń.

Uwaga 2: Pozycja 6A001.a.1.c nie obejmuje kontrolą elektronicznych źródeł kierujących dźwięk tylko w pionie ani źródeł mechanicznych (np. .pistolety powietrzne lub parowe) lub chemicznych (np. materiały wybuchowe).

1.'Gęstość mocy akustycznej' w impulsie powyżej 0,01 mW/mm2/Hz dla urządzeń pracujących w paśmie częstotliwości poniżej 10 kHz;

2.'Gęstość mocy akustycznej' ciągłej powyżej 0,001 mW/mm2/Hz dla urządzeń pracujących w paśmie częstotliwości poniżej 10 kHz; lub

Uwaga techniczna:

'Gęstość mocy akustycznej' oblicza się dzieląc wyjściową moc akustyczną przez iloczyn pola powierzchni wypromieniowanej wiązki i częstotliwości roboczej.

3. Mające tłumienie listka bocznego emisji powyżej 22 dB;

d. Systemy akustyczne, urządzenia i specjalne elementy do określania położenia statków nawodnych lub pojazdów podwodnych skonstruowane z przeznaczeniem do działania w zasięgu powyżej 1000 m i umożliwiające wyznaczanie położenia z dokładnością poniżej 10 m (wartość średnia kwadratowa) w przypadku pomiaru w zasięgu do 1000 m;

Uwaga: Pozycja 6A001.a.1.d obejmuje:

a.urządzenia, w których zastosowano koherentne "przetwarzanie sygnałów" pomiędzy dwiema lub większą liczbą boi kierunkowych a hydrofonem na statku nawodnym albo pojeździe podwodnym,

b.urządzenia mające możliwość automatycznego korygowania błędów prędkości rozchodzenia się dźwięku w celu obliczenia położenia obiektu.

2. Następujące pasywne urządzenia i systemy (odbiorcze, współpracujące, albo nie, w normalnych zastosowaniach z oddzielnymi urządzeniami aktywnymi) oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy:

a. Hydrofony posiadające jedną z następujących cech charakterystycznych:

Uwaga: Status kontroli hydrofonów specjalnie zaprojektowanych do innych urządzeń, wynika ze statusu kontroli tych innych urządzeń.

1. Wyposażone w ciągłe, elastyczne zespoły zczujnikowe;

2. Złożone z dyskretnych elementów czujnikowych o średnicy lub długości poniżej 20 mm znajdujących się w odległości jeden od drugiego wynoszącej poniżej 20 mm;

3. Wyposażone w jeden z następujących elementów czujnikowych:

a. Światłowody;

b."Piezoelektryczne powłoki polimerowe" inne niż polifluorek winylidenu (PVDF) i jego kopolimery {}{P(VDF-TrFE i P(VDF-TFE}}; lub

c. Elastyczne, kompozyty piezoelektryczne;

4.'Czułość hydrofonów' lepszą niż – 180 dB na każdej głębokości bez kompensacji przyspieszeniowej;

5. W przypadku przeznaczenia do pracy na głębokościach większych niż 35 m z kompensacją przyspieszeniową; lub

6. Przeznaczone do działania na głębokościach większych niż 1000 m;



Uwagi techniczne:

1.Elementy czujnikowe typu "piezoelektryczne powłoki polimerowe" składają się ze spolaryzowanej powłoki polimerowej, rozpiętej i przymocowanej do ramy lub szpuli (trzpienia).

2.Elementy czujnikowe typu "elastyczny kompozyt piezoelektryczny" składają się z piezoelektrycznych cząstek lub włókien ceramicznych połączonych z elektrycznie izolującym, akustycznie przejrzystym komponentem z gumy, polimeru lub epoksydu, przy czym komponent ten jest integralną częścią elementów czujnikowych.

3.'Czułość hydrofonu' definiuje się jako dwadzieścia logarytmów przy podstawie 10 ze stosunku napięcia skutecznego po sprowadzeniu do napięcia skutecznego 1 V, po umieszczeniu czujnika hydrofonowego, bez przedwzmacniacza, w polu akustycznych fal płaskich o ciśnieniu skutecznym 1 mikropaskala. Na przykład, hydrofon o czułości – 160 dB (po sprowadzeniu do poziomu 1 V na mikropaskal) daje w takim polu napięcie wyjściowe 10–8 V, natomiast hydrofon o czułości – 180 dB daje w takim samym polu napięcie wyjściowe tylko 10–9 V. Zatem hydrofon o czułości – 160 dB jest lepszy od hydrofonu o czułości – 180 dB.

b. Holowane zestawy matrycowe hydrofonów akustycznych, mające jedną z następujących cech:

1. Odległość pomiędzy grupami hydrofonów wynosi poniżej 12,5 m; lub "możliwe do modyfikowania" tak, żeby odległość pomiędzy grupami hydrofonów była mniejsza niż 12,5 m;

2. Przeznaczone albo 'możliwe do modyfikowania' z przeznaczeniem do działania na głębokościach większych niż 35 m;



Uwaga techniczna:

Wspomniana w pozycji 6A001.a.2.b.1 i 2 'możliwość modyfikowania' oznacza, że są zaopatrzone w elementy umożliwiające zmianę przewodów lub połączeń w celu zmiany odległości pomiędzy grupami hydrofonów albo granicznych głębokości roboczych. Do elementów takich zalicza się: zapasowe przewody w ilości przewyższającej o 10 % liczbę przewodów używanych, bloki umożliwiające zmianę odległości pomiędzy grupami hydrofonów lub wewnętrzne regulowane urządzenia limitujące głębokość lub urządzenia sterujące umożliwiające sterowanie więcej niż jedną grupą hydrofonów.

3. Czujniki kursowe objęte kontrolą według pozycji 6A001.a.2.d;

4. Sieci węży ze wzmocnieniem podłużnym;

5. Wyposażenie w układ zespołowy o średnicy mniejszej niż 40 mm;

6. Możliwość multipleksowania sygnałów grup hydrofonów i przeznaczenie do działania na głębokościach większych niż 35 m albo wyposażenie w regulowane lub demontowalne czujniki głębokości z przeznaczeniem do pracy na głębokościach większych niż 35 m; lub

7. Wyposażenie w hydrofony o właściwościach określonych w pozycji 6A001.a.2.a;

c. Urządzenia przetwarzające, specjalnie przeznaczone do holowanych zestawów (matryc) hydrofonów akustycznych posiadające "możliwość dostępu użytkownika do oprogramowania" oraz możliwość przetwarzania i korelacji w funkcji czasu lub częstotliwości, włącznie z analizą spektralną, filtrowaniem cyfrowym i kształtowaniem wiązki za pomocą szybkiej transformaty Fouriera lub innych transformat lub procesów;

d. Czujniki kursowe posiadające wszystkie z poniższych cech:

1. Dokładność powyżej ± 0,5°; oraz

2. Przeznaczone do pracy na głębokościach większych niż 35 m albo wyposażone w regulowane lub możliwe do demontażu czujniki głębokości z przeznaczeniem do pracy na głębokościach większych niż 35 m;

e. Denne lub przybrzeżne układy kablowe mające jedną z poniższych cech:

1. Wykorzystujące hydrofony z pozycji 6A001.a.2.a; lub

2. Zawierające moduły multipleksowe sygnałów grup hydrofonów, mające wszystkie wymienione niżej cechy:

a. Przeznaczone do działania na głębokości poniżej 35 m albo wyposażone w regulowane lub możliwe do demontażu czujniki głębokości, aby mogły działać na głębokości poniżej 35 m; i

b. Mogące pracować wymiennie z modułami holowanych zestawów hydrofonów akustycznych.

f. Urządzenia przetwarzające, specjalnie przeznaczone do kablowych układów dennych lub międzywręgowych, umożliwiające "programowalność dostępną dla użytkownika" oraz przetwarzanie i korelację w dziedzinie czasu lub częstotliwości, w tym analizę widmową, filtrowanie cyfrowe oraz cyfrowe kształtowanie wiązki za pomocą szybkiej transformaty Fouriera lub innych transformat lub procesów.

b. Urządzenia sonarowe z korelacją prędkościową przeznaczone do pomiaru prędkości poziomej obiektu, na którym się znajdują, względem dna morza w przypadku odległości obiektu od dna powyżej 500 m.

6A002Czujniki optyczne



NB.: Sprawdź także pozycję 6A102.

a. Następujące detektory optyczne:



Uwaga: Pozycja 6A002.a nie obejmuje kontrolą elementów fotoelektrycznych wykonanych z germanu lub krzemu.

NB.: Mikrobolometryczne "płaskie zespoły ogniskujące", inne niż "klasy kosmicznej", wykonane na bazie krzemu lub innych materiałów są wymienione jedynie w pozycji 6A002.a.3.f.

1. Następujące detektory półprzewodnikowe "klasy kosmicznej":

a. Detektory półprzewodnikowe "klasy kosmicznej" posiadające wszystkie z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Reakcja szczytowa w paśmie fal o długości powyżej 10 nm, ale poniżej 300 nm; i

2. W zakresie fal o długości powyżej 400 nm reakcja słabsza niż 0,1 % reakcji szczytowej;

b. Detektory półprzewodnikowe "klasy kosmicznej" posiadające wszystkie z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Reakcja szczytowa w zakresie długości fal powyżej 900 nm, ale poniżej 1200 nm; oraz

2."Stała czasowa" reakcji 95 ns lub poniżej;

c. Detektory półprzewodnikowe "klasy kosmicznej" posiadające reakcję szczytową w zakresie długości fal powyżej 1200 nm, ale poniżej 30000 nm;

2. Następujące lampy wzmacniające obrazy i specjalnie do nich przeznaczone elementy:

a. Lampy wzmacniające obrazy posiadające wszystkie wymienione poniżej cechy charakterystyczne:

1. Reakcja szczytowa w zakresie długości fal powyżej 400 nm, ale poniżej 1050 nm;

2. Elektroda mikrokanalikowa do wzmacniania obrazów elektronicznych z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) poniżej 12 mikrometrów; oraz

3. Następujące fotokatody:

a. Fotokatody S-20 i S-25 lub alkaliczne (wielopierwiastkowe) o czułości świetlnej przekraczającej 350 μA/lm;

b. Fotokatody GaAs lub GaInAs; lub

c. Inne fotokatody półprzewodnikowe związków III–V.

Uwaga: Pozycja 6A002.a.2.a.3.c nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych o maksymalnej czułości promieniowania 10 mA/W lub mniej.

b. Następujące specjalnie opracowane elementy:

1. Elektrody mikrokanalikowe do wzmacniania obrazów z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) poniżej 12 mikrometrów;

2. Fotokatody GaAs lub GaInAs;

3. Inne fotokatody półprzewodnikowe związków III–V.

Uwaga: Pozycja 6A002.a.2.b.3 nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych o maksymalnej czułości promieniowania 10 mA/W lub mniej.

3. Następujące, inne niż "klasy kosmicznej""płaskie zespoły ogniskujące":



Uwaga: Mikrobolometryczne "płaskie zespoły ogniskujące", inne niż "klasy kosmicznej", wykonane na bazie krzemu lub innych materiałów są wymienione jedynie w pozycji 6A002.a.3.f.

Uwagi techniczne:

1."Płaskie zespoły ogniskujące" to liniowe lub dwuwymiarowe wieloelementowe zespoły czujników.

2.Dla celów pozycji 6A002.a.3 'poprzeczny kierunek przeszukiwania' jest określany jako oś równoległa do liniowego układu elementów detekcyjnych, a 'kierunek przeszukiwania' jest określany jako oś prostopadła do liniowego układu elementów detekcyjnych.

Uwaga 1: Pozycja 6A002.a.3 obejmuje kontrolą zespoły fotoprzewodzące i fotowoltaiczne.

Uwaga 2: Pozycja 6A002.a.3 nie obejmuje kontrolą:

a.wieloelementowych (nie więcej niż 16 elementów) komórek fotoelektrycznych w obudowie, zawierających siarczek lub selenek cynku.

b. detektorów piroelektrycznych, w których zastosowano jeden z następujących związków:

1. Siarczan triglicyny i jego odmiany;

2. Tytanian ołowiu-lantanu-cyrkonu i odmiany;

3. Tantalan litu;

4. Polifluorek winylidenu i jego odmiany; lub

5. Niobian strontu-baru i jego odmiany;

a. Inne niż "klasy kosmicznej""płaskie zespoły ogniskujące" posiadające wszystkie z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 900 nm, ale poniżej 1050 nm; oraz

2."Stała czasowa" reakcji poniżej 0,5 ns;

b. Inne niż "klasy kosmicznej""płaskie zespoły ogniskujące" posiadające wszystkie wymienione poniżej cechy charakterystyczne:

1. Pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1050 nm, ale poniżej 1200 nm; oraz

2."Stała czasowa" reakcji 95 ns lub mniej; lub

c. Inne niż "klasy kosmicznej" nieliniowe (2 wymiarowe) "płaskie zespoły ogniskujące" posiadające reakcję szczytową poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1200 nm, ale poniżej 30000 nm;

Uwaga: Mikrobolometryczne "płaskie zespoły ogniskujące", inne niż "klasy kosmicznej", wykonane na bazie krzemu lub innych materiałów są wymienione jedynie w pozycji 6A002.a.3.f.

d. Inne niż "klasy kosmicznej" liniowe (1 wymiarowe) "płaskie zespoły ogniskujące", posiadające wszystkie następujące cechy charakterystyczne:

1. Pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1200 nm, ale poniżej 2500 nm; oraz

2. Jedną z następujących właściwości:

a. stosunek wymiaru 'kierunku przeszukiwania' elementu detekcyjnego do wymiaru 'poprzecznego kierunku przeszukiwania' elementu detekcyjnego poniżej 3,6; lub

b. przetwarzanie sygnałów w elemencie (SPRITE);

e. Inne niż "klasy kosmicznej" liniowe (1 wymiarowe) "płaskie zespoły ogniskujące" posiadające reakcję szczytową poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 2500 nm, ale poniżej 30000 nm.

f. Inne niż "klasy kosmicznej" nieliniowe (2 wymiarowe) "płaskie zespoły ogniskujące" w zakresie promieniowania podczerwonego oparte na materiale "mikrobolometrycznym" posiadające niefiltrowaną odpowiedź poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 8000 nm, ale poniżej 14000 nm.



Uwaga techniczna:

Do celów 6A002.a.3.f "mikrobolometr" jest określany jako detektor termalny, który, w wyniku zmiany temperatury w detektorze spowodowanej przez absorpcję promieniowania podczerwonego, generuje nadające się do wykorzystania sygnały.

b."Monospektralne czujniki obrazowe" i "wielospektralne czujniki obrazowe" przeznaczone do zdalnego wykrywania obiektów, posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Chwilowe pole widzenia (IFOV) poniżej 200 mikroradianów; lub

2. Przeznaczenie do działania w zakresie fal o długości powyżej 400 nm, ale poniżej 30000 nm oraz mające wszystkie następujące własności:

a. Dostarczanie wyjściowych danych obrazowych w postaci cyfrowej; oraz

b. Spełnianie jednego z warunków:

1. Posiadanie "klasy kosmicznej"; lub

2. Przeznaczenie do zastosowań lotniczych i zaopatrzenie w czujniki inne niż krzemowe oraz posiadające IFOV poniżej 2,5 miliradianów.

c. Urządzenia do 'bezpośredniego widzenia' działające w zakresie promieniowania widzialnego lub podczerwonego wyposażone w jeden z następujących zespołów:

1. Lampy do wzmacniania obrazów objęte kontrolą według pozycji 6A002.a.2.a; lub

2."Płaskie zespoły ogniskujące" objęte kontrolą według pozycji 6A002.a.3;

Uwaga techniczna:

Termin "bezpośrednie widzenie" odnosi się do urządzeń tworzących obrazy, działających w zakresie fal widzialnych albo podczerwonych i przedstawiających widzialny dla człowieka obraz bez jego przetwarzania na sygnał elektroniczny przekazywany na ekran telewizyjny, niemogących zarejestrować albo przechować obrazu na drodze fotograficznej, elektronicznej albo jakiejkolwiek innej.

Uwaga: Pozycja 6A002.c nie obejmuje kontrolą następujących urządzeń zaopatrzonych w fotokatody inne niż z GaAs lub GaInAs:

a.Przemysłowych lub cywilnych systemów alarmowych, systemów kontroli ruchu drogowego lub przemysłowego ani systemów zliczających;

b.Urządzeń medycznych;

c.Urządzeń przemysłowych stosowanych do kontroli, sortowania lub analizy właściwości materiałów;

d.Wykrywaczy płomieni do pieców przemysłowych;

e.Urządzeń specjalnie przeznaczonych do celów laboratoryjnych.

d. Następujące specjalne elementy pomocnicze do czujników optycznych;

1. Chłodnice kriogeniczne "klasy kosmicznej";

2. Następujące chłodnice kriogeniczne nie należące do "klasy kosmicznej", posiadające źródło chłodzenia o temperaturze poniżej 218 K (– 55 °C):

a. Pracujące w obiegu zamkniętym i charakteryzujące się średnim Czasem Do Awarii (MTTF) albo średnim Czasem Międzyawaryjnym (MTBF) powyżej 2500 godzin;

b. Samoregulujące się minichłodnice Joula-Thomsona (JT) z otworkami o średnicy (na zewnątrz) poniżej 8 mm;

3. Czujnikowe włókna optyczne o specjalnym składzie albo konstrukcji, albo zmodyfikowane techniką powlekania, w celu nadania im właściwości umożliwiających reagowanie na fale akustyczne, promieniowanie termiczne, siły bezwładności, promieniowanie elektromagnetyczne lub jądrowe,

e."Płaskie zespoły ogniskujące""klasy kosmicznej" mające więcej niż 2048 elementów na zespół i reakcję szczytową w paśmie fal o długości powyżej 300 nm, ale poniżej 900 nm.

6A003Kamery filmowe

NB.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A203.

NB.: Dla kamer specjalnie opracowanych lub zmodyfikowanych do zastosowań podwodnych sprawdź także pozycje 8A002.d i 8A002.e.

a. Następujące kamery rejestrujące i specjalnie dla nich przeznaczone elementy:



Uwaga: Kamery rejestrujące, określone w poz. 6A003.a.3 do 6A003.a.5, o budowie modułowej powinny być oceniane wg ich maksymalnych możliwości przy wykorzystaniu 'zespołów wtykanych' zgodnie ze specyfikacją producenta kamery.

1. Bardzo szybkie kamery filmowe rejestrujące na błonie dowolnego formatu od 8 mm do 16 mm włącznie, w których błona jest podczas rejestracji przesuwana w sposób ciągły, umożliwiające rejestrowanie obrazów z szybkościami powyżej 13150 klatek na sekundę;



Uwaga: Pozycja 6A003.a.1 nie obejmuje kontrolą filmowych kamer rejestrujących przeznaczonych do użytku cywilnego.

2. Bardzo szybkie kamery z napędem mechanicznym, bez przesuwu filmu, umożliwiające rejestrację z szybkościami powyżej 1000000 klatek na sekundę na całej szerokości błony 35 mm, lub z szybkościami proporcjonalnie większymi na błonach o mniejszych formatach, albo z szybkościami proporcjonalnie mniejszymi na błonach o formatach większych;

3. Mechaniczne lub elektryczne kamery smugowe o szybkości zapisu powyżej 10 mm/mikrosekundę;

4. Elektroniczne kamery obrazowe o szybkości powyżej 1000000 klatek na sekundę;

5. Kamery elektroniczne posiadające obie z poniższych cech:

a. Szybkość działania migawki elektronicznej (bramkowania) poniżej 1 mikrosekundy na pełną klatkę; oraz

b. Czas odczytu umożliwiający szybkość powyżej 125 pełnych klatek na sekundę;

6.'Zespoły wtykane' posiadające wszystkie z poniższych cech:

a. Specjalnie zaprojektowane do kamer rejestrujących, które mają modułową strukturę i które zostały wyszczególnione w pozycji 6A003.a.; oraz

b. Umożliwiające tym kamerom realizowanie właściwości wymienionych w pozycjach 6A003.a.3., 6A003.a.4. lub 6A003.a.5., zgodnie z danymi technicznymi producenta.

b. Następujące kamery obrazowe:

Uwaga: Pozycja 6A003.b nie obejmuje kontrolą kamer telewizyjnych ani wideokamer przeznaczonych specjalnie dla stacji telewizyjnych.

1. Wideokamery z czujnikami półprzewodnikowymi posiadające reakcję szczytową w przedziale długości fal powyżej 10 nm, ale nie więcej niż 30000 nm, oraz wszystkie wymienione poniżej cechy charakterystyczne:

a. posiadające jedną z poniższych właściwości:

1. powyżej 4 × 106"aktywnych pikseli" na półprzewodnikową siatkę dla kamer monochromatycznych (czarno-białych);

2. powyżej 4 × 106"aktywnych pikseli" na półprzewodnikową siatkę dla kamer kolorowych z trzema siatkami półprzewodnikowymi; lub

3. powyżej 12 × 106"aktywnych pikseli" na półprzewodnikową siatkę dla kamer kolorowych z jedną siatką półprzewodnikową; oraz

b. posiadające jedną z poniższych:

1. zwierciadła optyczne objęte kontrolą według pozycji 6A004.a;

2. urządzenia do sterowania optyką objęte kontrolą według pozycji 6A004.d; lub

3. zdolność do nanoszenia wytwarzanych wewnętrznie ścieżek danych o kamerze.



Uwaga techniczna:

1.Na użytek niniejszego punktu wideokamery cyfrowe powinny być oceniane na podstawie maksymalnej liczby "aktywnych pikseli" wykorzystywanych do rejestrowania obrazów ruchomych.

2.Na użytek niniejszego punktu, ścieżki danych o kamerze stanowią informacje niezbędne do określenia orientacji widzenia kamery względem ziemi. Należą do nich: 1) kąt poziomy osi widzenia kamery względem kierunku pola magnetycznego ziemi; oraz 2) kąt pionowy pomiędzy osią widzenia kamery a horyzontem ziemi.

2. Kamery skaningowe i systemy kamer skaningowych posiadające wszystkie z poniższych właściwości:

a. Posiadające reakcję szczytową w przedziale długości fal powyżej 10 nm, ale nie większą niż 30000 nm;

b. Liniowe siatki detekcyjne posiadające powyżej 8192 elementów na siatkę; i

c. Mechaniczne przeszukiwanie w jednym kierunku;

3. Kamery obrazowe wyposażone we wzmacniacze obrazów wymienione w pozycji 6A002.a.2.a.;

4. Kamery obrazowe zawierające "płaskie zespoły ogniskujące" wyposażone w:

a."płaskie zespoły ogniskujące" objęte kontrolą według pozycji 6A002.a.3.a do 6A002.a.3.e; lub



b."płaskie zespoły ogniskujące" objęte kontrolą według pozycji 6A002.a.3.f.

Uwaga 1:"kamery obrazowe" opisane w pozycji 6A003.b.4 zawierają "płaskie zespoły ogniskujące" połączone z odpowiednią elektroniką przetwarzania sygnałów, poza układem odczytującym, w celu umożliwienia przynajmniej wyjścia sygnału analogowego lub cyfrowego po podłączeniu zasilania.

Uwaga 2: Pozycja 6A003.b.4.a nie obejmuje kontrolą kamer obrazowych wykorzystujących liniowe "płaskie zespoły ogniskujące" o 12 lub mniej elementach, nieposiadających w elementach opóźnienia czasowego i całkowania, przeznaczone do następujących zastosowań:

a.Przemysłowe lub cywilne alarmy włamaniowe, kontrola ruchu na drogach lub w przemyśle, lub systemy zliczające;

b.Urządzenia przemysłowe stosowane do nadzoru lub monitorowania wypływu ciepła w budynkach, urządzeniach lub procesach przemysłowych;

c.Urządzenia przemysłowe stosowane do nadzoru, sortowania lub analizy właściwości materiałów;

d.Urządzenia specjalnie zaprojektowane do zastosowań laboratoryjnych; lub

e.Sprzęt medyczny.

Uwaga 3: Pozycja 6A003.b.4.b. nie obejmuje kontrolą kamer obrazowych posiadających dowolną z następujących cech:

a.szybkość analizy obrazów równa lub wyższa niż 9 Hz;

b.oraz wszystkie wymienione poniżej:

1.poziome lub pionowe minimalne chwilowe pole widzenia (IFOV) wynoszące przynajmniej 10 mrad/pixel (miliradianów/piksel);

2.wyposażone w stałą soczewkę ogniskującą, która została zaprojektowana w sposób uniemożliwiający usunięcie;

3.brak wyposażenia w wyświetlacz "bezpośredniego widzenia", oraz

4.posiadanie dowolnej z następujących cech:

a.brak możliwości uzyskania widzialnego obrazu wykrytego pola widzenia; lub

b.zaprojektowanie kamery dla jednego rodzaju zastosowania, bez możliwości modyfikowania jej funkcji przez użytkownika; lub

c.pecjalne zaprojektowanie kamery do instalacji w cywilnych pasażerskich pojazdach lądowych o ciężarze mniejszym niż trzy tony (ciężar brutto pojazdu) i posiadanie przez nią wszystkich następujących cech:

1.możliwość funkcjonowania tylko, gdy kamera jest zainstalowana w jednym z następujących:

a.cywilne pasażerskie pojazdy lądowe, do których była przeznaczona; lub

b.specjalnie zaprojektowane, autoryzowane urządzenie do testów konserwacyjnych; oraz

2.Posiada aktywny mechanizm, który powoduje zaprzestanie działania kamery, gdy jest ona zdjęta z pojazdu, dla którego została przeznaczona.

Uwagi techniczne:

1.Chwilowe pole widzenia (IFOV) określone w pozycji 6.A003.b.4 uwaga 3.b jest mniejszą z wartości poziomego IFOV lub pionowego IFOV.

Poziome IFOV = poziome pole widzenia (FOV) / liczba poziomych elementów detekcyjnych.

Pionowe IFOV = pionowe pole widzenia (FOV) / liczba pionowych elementów detekcyjnych.

2.Termin "bezpośrednie widzenie" określony w pozycji 6A003.b.4. uwaga 3.b. odnosi się do kamery obrazowej działającej w zakresie fal podczerwonych, która wytwarza obraz widzialny dla człowieka będącego obserwatorem, wykorzystując mikrowyświetlacz bliski oku wyposażony w dowolny mechanizm zabezpieczenia przed światłem.

6A004Elementy optyczne

a. Następujące zwierciadła optyczne (reflektory):

1."Zwierciadła odkształcalne" o powierzchni ciągłej lub wieloelementowej oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy, mające możliwość dynamicznej zmiany położenia części powierzchni zwierciadła z szybkością powyżej 100 Hz;

2. Lekkie zwierciadła monolityczne o przeciętnej "gęstości zastępczej" poniżej 30 kg/m2 i masie całkowitej powyżej 10 kg;

3. Lekkie konstrukcje zwierciadlane z materiałów "kompozytowych" lub spienionych o przeciętnej "gęstości zastępczej" poniżej 30 kg/m2 i masie całkowitej powyżej 2 kg;

4. Zwierciadła do kierowania wiązką, mające średnicę albo długość osi głównej powyżej 100 mm, zachowujące płaskość rzędu lambda/2 lub lepszą (lambda jest równe 633 nm) i sterowane wiązką o szerokości pasma powyżej 100 Hz;

b. Elementy optyczne z selenku cynku (ZnSe) lub siarczku cynku (ZnS) z możliwością transmisji w zakresie długości fal powyżej 3000 nm, ale poniżej 25000 nm i posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Objętość powyżej 100 cm3; lub

2. Średnicę lub długość osi głównej powyżej 80 mm oraz grubość (głębokość) powyżej 20 mm;

c. Następujące elementy "klasy kosmicznej" do systemów optycznych:

1. O "gęstości zastępczej" obniżonej o 20 % w porównaniu z masywnym wyrobem o takiej samej aperturze i grubości;

2. Podłoża surowe, podłoża powlekane powierzchniowo (z powłoką jednowarstwową lub wielowarstwową, metaliczną lub dielektryczną, przewodzącą, półprzewodzącą lub izolującą) lub pokryte błoną ochronną;

3. Segmenty lub zespoły zwierciadeł przeznaczone do montażu z nich w przestrzeni kosmicznej systemów optycznych, mające sumaryczną aperturę równoważną lub większą niż pojedynczy element optyczny o średnicy 1 metra;

4. Wykonane z materiałów "kompozytowych" o współczynniku liniowej rozszerzalności termicznej w kierunku dowolnej współrzędnej równym lub mniejszym niż 5 × 10-6;

d. Następujące urządzenia do sterowania elementami optycznymi:

1. Urządzenia specjalnie przeznaczone do utrzymywania kształtu lub orientacji powierzchni elementów "klasy kosmicznej" objętych kontrolą według pozycji 6A004.c.1 lub 6A004.c.3;

2. Urządzenia posiadające pasmo sterowania, śledzenia, stabilizacji lub strojenia rezonatora o szerokości równej lub większej niż 100 Hz oraz dokładność 10 μrad (mikroradianów) lub lepszą;

3. Zawieszenia kardanowe mające wszystkie z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Maksymalny kąt wychylenia powyżej 5°;

b. Szerokość pasma równą lub większą niż 100 Hz;

c. Możliwość ustawiania kątowego z dokładnością równą lub lepszą niż 200 μrad (mikroradianów); oraz

d. Jeden z wymienionych poniżej parametrów:

1. średnicę lub długość osi głównej powyżej 0,15 m, ale nie większą niż 1 m i możliwość zmiany położenia kątowego z przyspieszeniami powyżej 2 rad (radianów)/s2; lub

2. średnicę lub długość osi głównej powyżej 1 m i możliwość zmiany położenia kątowego z przyspieszeniami powyżej 0,5 rad (radianów)/s2;

4. Urządzenia specjalnie przeznaczone do utrzymywania w odpowiednim położeniu systemów układów fazowanych lub systemów fazowanych zwierciadeł segmentowych o średnicy segmentów lub długości osi głównej równej lub większej od 1 m;

e.'Asferyczne elementy optyczne', mające wszystkie wymienione niżej cechy:

1. Największy wymiar apertury optycznej jest większy niż 400 mm;

2. Nierówność powierzchni jest mniejsza niż 1 nm (średnia wartość kwadratowa) dla długości próbkowania równej lub większej niż 1 mm; i

3. Wartość absolutna współczynnika liniowej rozszerzalności termicznej przy 25 °C jest mniejsza niż 3 × 10-6/K.



Uwagi techniczne:

1.'Asferycznym elementem optycznym' jest taki element, stosowany w systemach optycznych, którego powierzchnia lub powierzchnie czynne są zaprojektowane jako odbiegające od kształtu idealnej sfery.

2.Od producentów nie jest wymagany pomiar nierówności, o którym mowa w 6A004.e., jeżeli element optyczny nie został zaprojektowany lub wykonany z zamiarem dotrzymania lub przekroczenia parametru kontrolnego.

Uwaga: Pozycja 6A004.e.2 nie obejmuje kontrolą asferycznych elementów optycznych mających którąkolwiek z następujących cech:

a.Największy wymiar apertury optycznej mniejszy niż 1 m i stosunek długości ogniskowej do apertury równy lub większy niż 4.5:1;

b.Największy wymiar apertury optycznej równy lub większy niż 1 m i stosunek długości ogniskowej do apertury równy lub większy niż 7:1;

c.Zaprojektowany jako element Fresnela, oko muchy, pasek, pryzmat lub element dyfrakcyjny;

d.Wykonany ze szkła borokrzemowego mającego współczynnik rozszerzalności liniowej większy niż 2,5 × 10-6/K przy 25 °C; lub

e.Będący elementem optyki rentgenowskiej, mającym właściwości zwierciadła wewnętrznego (np. zwierciadła typu rurowego).

NB.: Jeżeli chodzi o elementy asferyczne specjalnie zaprojektowane dla urządzeń litograficznych, patrz 3B001.

6A005Następujące "lasery", ich elementy i urządzenia optyczne do nich, różne od wymienionych w pozycjach 0B001.g.5 lub 0B001.h.6:



NB.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A205.

Uwaga 1: Do "laserów" impulsowych zalicza się lasery z falą ciągłą (CW), z nakładanymi na nią impulsami.

Uwaga 2: Do "laserów" wzbudzanych impulsowo zalicza się lasery działające w trybie wzbudzenia ciągłego z nakładającym się wzbudzeniem impulsowym.

Uwaga 3: Status kontroli "laserów" Ramana wynika z parametrów "laserów" pompujących. "Laserem" pompującym może być każdy z "laserów" wymienionych poniżej.

a. Następujące "lasery" gazowe:

1."Lasery" ekscymerowe posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Długość fali wyjściowej nieprzekraczającą 150 nm oraz jedną z poniższych właściwości:

1. Energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls; lub

2. Przeciętna moc wyjściowa powyżej 1 W;

b. Długość fali wyjściowej powyżej 150 nm, ale nie dłuższą niż 190 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls; lub

2. Przeciętna moc wyjściowa powyżej 120 W;

c. Długość fali wyjściowej powyżej 190 nm, ale nie więcej niż 360 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 10 J na impuls; lub

2. Przeciętna moc wyjściowa powyżej 500 W; lub

d. Długość fali wyjściowej powyżej 360 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls; lub

2. Przeciętna moc wyjściowa powyżej 30 W;

NB.: W przypadku "laserów" ekscymerowych specjalnie zaprojektowanych dla urządzeń litograficznych sprawdź 3B001.

2. Następujące "lasery" na parach metali:

a."Lasery" na miedzi (Cu) o przeciętnej mocy wyjściowej powyżej 20 W;

b."Lasery" na złocie (Au) o przeciętnej mocy wyjściowej powyżej 5 W;

c."Lasery" na sodzie (Na) o mocy wyjściowej powyżej 5 W;

d."Lasery"na barze (Ba) o przeciętnej mocy wyjściowej powyżej 2 W;

3."Lasery" na tlenku węgla (CO) posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Energia wyjściowa powyżej 2 J na impuls i "szczytowa moc" impulsu powyżej 5 kW; lub

b. Przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 5 kW;

4."Lasery" na dwutlenku węgla (CO2) posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 15 kW;

b. Wyjście impulsowe z "szerokością impulsu" powyżej 10 mikrosekund oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Przeciętna moc wyjściowa powyżej 10 kW; lub

2."Moc szczytowa" impulsu powyżej 100 kW; lub

c. Wyjście impulsowe o "szerokości impulsu" równej lub mniejszej niż 10 mikrosekund oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia impulsu powyżej 5 J na impuls; lub

2. Przeciętna moc wyjściowa powyżej 2,5 kW;

5. Następujące "lasery chemiczne":

a."Lasery" fluorowodorowe (HF);

b."Lasery" na fluorku deuteru (DF);

c."Lasery z przekazaniem energii":

1."Lasery" tlenowo-jodowe (O2-I);

2."Lasery" na mieszaninie fluorku deuteru i dwutlenku węgla (DF-CO2);

6."Lasery" jarzeniowo-jonowe, tj. "lasery" na jonach kryptonu lub argonu posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 50 W; lub

b. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 50 W;

7. Inne "lasery" gazowe, posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

Uwaga: Pozycja 6A005.a.7. nie obejmuje kontrolą "laserów" azotowych.

a. Długość fali wyjściowej nie większa niż 150 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 1 W; lub

2. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

b. Długość fali wyjściowej większa niż 150 nm, ale nie dłuższa niż 800 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 30 W; lub

2. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 30 W;

c. Długość fali wyjściowej większa niż 800 nm, ale nie dłuższa niż 1400 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 0,25 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 10 W; lub

2. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 10 W; lub

d. Długość fali wyjściowej większa niż 1400 nm oraz przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

b."Lasery" półprzewodnikowe, jak następuje:

1. Indywidualne "lasery" półprzewodnikowe działające w trybie z pojedynczym przejściem poprzecznym posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Długość fali mniejszą niż 1510 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 1,5 W; lub

b. Długość fali większą niż 1510 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 500 mW;

2. Indywidualne "lasery" półprzewodnikowe działające w trybie z wielokrotnym przejściem poprzecznym posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Długość fali mniejszą niż 1400 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 10 W;

b. Długość fali większą niż 1400 nm a mniejszą niż 1900 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 2,5 W; lub

c. Długość fali równą lub większą niż 1900 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 1 W.

3. Indywidualne zestawy oddzielnych "laserów" półprzewodnikowych posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Długość fali mniejszą niż 1400 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 80 W;

b. Długość fali większą niż 1400 nm a mniejszą niż 1900 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 25 W; lub

c. Długość fali równą lub większą niż 1900 nm oraz przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 10 W.

4. Stosy układów "laserów" półprzewodnikowych zawierające przynajmniej jeden układ znajdujący się pod pozycją 6A005.b.3.





Pobieranie 1.57 Mb.

1   ...   8   9   10   11   12   13   14   15   ...   18




©absta.pl 2020
wyślij wiadomość

    Strona główna