Unii europejskiej



Pobieranie 1.57 Mb.
Strona13/18
Data29.04.2016
Rozmiar1.57 Mb.
1   ...   10   11   12   13   14   15   16   17   18
Uwagi techniczne:

1."Lasery" półprzewodnikowe są powszechnie nazywane diodami "laserowymi".

2."Układ" składa się z wielu półprzewodnikowych emiterów "laserowych" wytwarzanych jako jeden układ scalony tak, że środki emitowanych wiązek światła leżą na liniach równoległych.

3."Stos układów" wytwarza się układając na sobie, albo w inny sposób, tworząc zespół, "układy" tak, że środki emitowanych wiązek światła leżą na liniach równoległych.

Uwaga 1: Pozycja 6A005.b. obejmuje "lasery" półprzewodnikowe wyposażone w optyczne złącza wyjściowe (np. kable z włókien światłowodowych).

Uwaga 2: Status kontroli "laserów" półprzewodnikowych przeznaczonych specjalnie do innych urządzeń wynika ze statusu kontroli tych innych urządzeń.

c. Następujące "lasery" na ciele stałym:

1."Lasery""przestrajalne" posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

Uwaga: Pozycja 6A005.c.1. obejmuje "lasery" tytanowo-szafirowe (Ti: Al2O3), tul – YAG (Tm: YAG), tul – YSGG (Tm: YSGG), aleksandrytowe (CR: BeAl2O4) oraz "lasery" barwnikowe.

a. Długość fali wyjściowej poniżej 600 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 1 W; lub

2. Przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

b. Długość fali wyjściowej 600 nm lub większa, ale nieprzekraczająca 1400 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 1 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 20 W; lub

2. Przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 20 W; lub

c. Długość fali wyjściowej powyżej 1400 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

1. Energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 1 W; lub

2. Przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

2. Następujące "lasery""nieprzestrajalne":

Uwaga: Pozycja 6A005.c.2. obejmuje kontrolą "lasery" na ciele stałym z przemianą atomową.

a. Następujące "lasery" ze szkła neodymowego:

1."Lasery modulowane dobrocią" posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Energia wyjściowa powyżej 20 J, ale nie więcej niż 50 J na impuls i przeciętna moc wyjściowa powyżej 10 W; lub

b. Energia wyjściowa powyżej 50 J na impuls;

2."Lasery niemodulowane dobrocią" posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Energia wyjściowa powyżej 50 J, ale nie więcej niż 100 J na impuls i przeciętna moc wyjściowa powyżej 20 W; lub

b. Energia wyjściowa powyżej 100 J na impuls;

b. Następujące "lasery" z domieszką neodymu (z wyjątkiem szkła) z falą wyjściową o długości powyżej 1000 nm, ale nie dłuższą niż 1100 nm;

Uwaga:"Lasery" z domieszką neodymową (inną niż szkło), o długościach fali wyjściowej nie większych niż 1000 nm lub powyżej 1100 nm, ujęto w pozycji 6A005.c.2.c.

1. Wzbudzane impulsowo, z blokadą trybu działania, "lasery modulowane dobrocią" o "szerokości impulsu" poniżej 1 ns oraz mające jeden z poniższych parametrów:

a."Moc szczytowa" powyżej 5 GW;

b. Przeciętna moc wyjściowa powyżej 10 W; lub

c. Energia impulsu powyżej 0,1 J;

2. Wzbudzane impulsowo "lasery modulowane dobrocią" o "szerokości impulsu" równej albo większej niż 1 ns oraz mające jeden z poniższych parametrów:

a. Sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego mający:

1."Moc szczytową" powyżej 100 MW;

2. Przeciętną moc wyjściową powyżej 20 W; lub

3. Energię impulsu powyżej 2 J; lub

b. Sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego mający:

1."Moc szczytową" powyżej 400 MW;

2. Przeciętną moc wyjściową powyżej 2 kW; lub

3. Energię impulsu powyżej 2 J;

3. Wzbudzane impulsowo "lasery innego typu niż modulowane dobrocią", posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Wyjście w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego oraz jeden z poniższych parametrów:

1."Moc szczytową" powyżej 500 kW; lub

2. Przeciętną moc wyjściową powyżej 150 W; lub

b. Wyjście w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego oraz jeden z poniższych parametrów:

1."Moc szczytową" powyżej 1 MW; lub

2. Przeciętną moc wyjściową powyżej 2 kW;

4."Lasery" o wzbudzeniu ciągłym posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

a. Wyjście w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego oraz jeden z poniższych parametrów:

1."Moc szczytową" powyżej 500 kW; lub

2. Przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 150 W; lub

b. Wyjście w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego oraz jeden z poniższych parametrów:

1."Moc szczytową" powyżej 1 MW; lub

2. Przeciętną lub ciągłą (CW) moc wyjściową powyżej 2 kW;

c. Inne "lasery" nieprzestrajalne posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Długość fali wyjściowej poniżej 150 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

a. Energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 1 W; lub

b. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

2. Długość fali wyjściowej 150 nm lub więcej, ale nie powyżej 800 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

a. Energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 30 W; lub

b. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 30 W;

3. Następujące lasery o długości fali wyjściowej powyżej 800 nm, ale nie powyżej 1400 nm:

a."Lasery modulowane dobrocią" o następujących parametrach:

1. Energia wyjściowa powyżej 0,5 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 50 W; lub

2. Przeciętna moc wyjściowa powyżej:

a. Dla "laserów" pracujących w trybie pojedynczym 10 W;

b. Dla "laserów" pracujących w trybie wielokrotnym 30 W;

b."Lasery niemodulowane dobrocią" o następujących parametrach:

1. Energia wyjściowa powyżej 2 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 50 W; lub

2. Przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 50 W; lub

4. Długość fali powyżej 1400 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

a. Energia wyjściowa powyżej 100 mJ na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 1 W; lub

b. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

d."Lasery" barwnikowe i inne cieczowe, posiadające jedną z wymienionych poniżej cech charakterystycznych:

1. Długość fali wyjściowej poniżej 150 nm oraz:

a. Energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i "moc szczytowa impulsu" powyżej 1 W; lub

b. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

2. Długość fali 150 nm lub więcej, ale nie powyżej 800 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

a. Energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 20 W;

b. Przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 20 W; lub

c. Impulsowy pojedynczy oscylator podłużny o przeciętnej mocy wyjściowej powyżej 1 W i częstotliwości powtarzania impulsów 1 kHz, w przypadku gdy "szerokość impulsu" wynosi poniżej 100 ns;

3. Długość fali powyżej 800 nm, ale nie więcej niż 1400 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

a. Energia wyjściowa powyżej 0,5 J na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 10 W; lub

b. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 10 W; lub

4. Długość fali powyżej 1400 nm oraz jeden z poniższych parametrów:

a. Energia wyjściowa powyżej 100 mJ na impuls i "moc szczytowa" impulsu powyżej 1 W; lub

b. Przeciętna albo ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W;

e. Następujące elementy:

1. Zwierciadła 'chłodzone czynnie' albo za pomocą termicznej chłodnicy rurkowej;

Uwaga techniczna:

'Chłodzenie czynne' jest techniką chłodzenia elementów optycznych za pomocą cieczy przepływającej pomiędzy powierzchnią optyczną a dodatkową (zazwyczaj znajdującą się w odległości poniżej 1 mm od powierzchni optycznej), wskutek czego następuje odprowadzenie ciepła z powierzchni optycznej.

2. Zwierciadła optyczne albo przepuszczalne lub częściowo przepuszczalne elementy optyczne lub elektrooptyczne specjalnie przeznaczone do "laserów" objętych kontrolą;

f. Następujące urządzenia optyczne:

NB.: Odnośnie elementów optycznych z dzieloną aperturą, zdolnych do pracy w "laserach super wysokiej mocy", sprawdź także Wykaz Uzbrojenia.

1. Dynamiczne urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole wiązki falowej charakteryzujące się następującymi parametrami:

a. Szybkość analizy obrazów równa lub wyższa niż 100 Hz oraz dyskryminacja fazy na co najmniej 5 % długości fali wiązki; lub

b. Szybkość analizy obrazów równa lub wyższa niż 1000 Hz i dyskryminacja fazy na co najmniej 20 % długości fali wiązki;

2."Laserowe" urządzenia diagnostyczne umożliwiające pomiar błędów sterowania położeniem kątowym "systemów laserowych bardzo wysokiej mocy" (SHPL) z dokładnością równą lub lepszą niż 10 μrad (mikroradianów);

3. Urządzenia optyczne, zespoły lub elementy specjalnie przeznaczone do systemów "SHPL" w formie zespołów fazowanych w celu sterowania wiązkami koherentnymi z dokładnością Lambda/10 dla określonej długości fali, lub 0,1 mikrometra, w zależności od tego, która z tych wielkości jest mniejsza;

4. Teleskopy projekcyjne specjalnie przeznaczone do systemów SHPL.

6A006Następujące "magnetometry", "mierniki gradientu magnetycznego", "mierniki gradientu magnetycznego własnego", podwodne czujniki pola elektrycznego i systemy kompensacji oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy:



Uwaga: Pozycja 6A006 nie obejmuje kontrolą instrumentów specjalnie przeznaczonych do pomiarów biomagnetycznych do celów zastosowań w rybołówstwie lub diagnostyce medycznej.

a. Następujące "magnetometry" i podukłady:

1. W których zastosowano "technologie" materiałów "nadprzewodzących" (SQUID) i posiadające następujące cechy:

a. Systemy SQUID przeznaczone do działania nieruchomego bez specjalnie przeznaczonych podukładów do zmniejszenia hałasu w ruchu i charakteryzujące się "poziomem szumów" mniejszym (czułością lepszą) niż 50fT (rms)/ square root Hz przy częstotliwości 1 Hz; lub

b. Systemy SQUID posiadające magnetometr ruchu ruchu i charakteryzujące się "poziomem szumów" mniejszym (czułością lepszą) niż 20 pT(rms) na pierwiastek kwadratowy Hz przy częstotliwości 1 Hz i specjalnie zaprojektowane do zmniejszenia szumu w ruchu;

2. W których zastosowano technologię pompowania optycznego, precesji jądrowej (proton/Overhauser) charakteryzujące się "poziomem szumów" (czułością) mniejszą (lepszą) niż 20 pT(rms) na pierwiastek kwadratowy Hz;

3. W których zastosowano technologię bramkowania strumienia charakteryzujące się "poziomem szumów" (czułością) mniejszą (lepszą) niż 10 pT (średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz;

4."Magnetometry" z cewką indukcyjną, charakteryzujące się "poziomem szumów" mniejszym (czułością lepszą) niż jeden z poniższych:

a. 0,05 nT rms/square root Hz [(średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz] w zakresie częstotliwości poniżej 1 Hz;

b. 1 × 10-3 nT rms/square root Hz [(średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz] w zakresie częstotliwości 1 Hz lub powyżej, ale nieprzekraczających 10 Hz; lub

c. 1 × 10-4 nT rms/square root Hz w zakresie częstotliwości powyżej 10 Hz;

5."Magnetometry" światłowodowe charakteryzujące się "poziomem szumów" (czułością) poniżej (lepszą niż) 1 nT [(średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz];

b. Podwodne czujniki pola elektrycznego o "poziomie szumów" (czułości) niższym (lepszym) niż 8 nanowoltów na metr na pierwiastek kwadratowy z Hz mierzonym dla częstotliwości 1 Hz.

c. Następujące "mierniki gradientu magnetycznego":

1."Mierniki gradientu magnetycznego", w których zastosowano pewną liczbę "magnetometrów" objętych kontrolą według pozycji 6A006.a;

2. Światłowodowe "mierniki gradientu magnetycznego własnego" charakteryzujące się "poziomem szumów" gradientu pola magnetycznego (czułością) niższym (lepszą) niż 0,3 nT/m rms/square root Hz [(średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz];

3."Mierniki gradientu magnetycznego własnego", w których zastosowano inną "technologię" niż światłowodowa, charakteryzujące się "poziomem szumów" gradientu pola magnetycznego (czułością) niższym (lepszą) niż 0,015 nT/m rms/square root Hz;

d. Systemy kompensacji do czujników magnetycznych lub podwodnych czujników pola elektrycznego o parametrach odpowiadających lub przewyższających parametry kontrolne dotyczące pozycji 6A006.a, 6A006.b lub 6A006.c.

6A007Następujące grawimetry i mierniki gradientu pola grawitacyjnego:

NB.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A107.

a. Grawimetry zaprojektowane lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do pomiarów naziemnych o dokładności statycznej poniżej (lepszej niż) 10 μgal;



Uwaga: Pozycja 6A007.a. nie obejmuje kontrolą grawimetrów do pomiarów naziemnych z elementem kwarcowym (Wordena).

b. Grawimetry do stosowania na ruchomych platformach charakteryzujące się wszystkimi z poniższych parametrów:

1. Dokładność statyczna poniżej (lepsza niż) 0,7 mgal; oraz

2. Dokładność eksploatacyjna (robocza) poniżej (lepsza niż) 0,7 mgal przy czasie do ustalenia warunków rejestracji poniżej 2 minut bez względu na sposób kompensacji oddziaływań ubocznych i wpływu ruchu;

c. Mierniki gradientu pola grawitacyjnego.

6A008Systemy, urządzenia i zespoły radarowe o jednej z wymienionych poniżej cech charakterystycznych oraz specjalnie do nich przeznaczone elementy:



NB.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6A108.

Uwaga: Pozycja 6A008 nie obejmuje kontrolą następujących obiektów:

a.Pomocniczych radarów kontroli rejonu (SSR);

b.Radarów samochodowych ostrzegających przed zderzeniami;

c.Wyświetlaczy i monitorów stosowanych w kontroli ruchu powietrznego mających nie więcej niż 12 rozróżnialnych elementów na mm.

d.Radarów meteorologicznych (do kontroli pogody).

a. Działające w zakresie częstotliwości od 40 GHz do 230 GHz i charakteryzujące się przeciętną mocą wyjściową powyżej 100 mW;

b. Umożliwiające przestrajanie pasma częstotliwości w zakresie powyżej ± 6,25 % od 'środkowej częstotliwości roboczej';

Uwaga techniczna:

'Środkowa częstotliwość robocza' równa się połowie sumy najwyższej i najniższej nominalnej częstotliwości roboczej.

c. Zdolne do równoczesnego działania na dwóch lub więcej częstotliwościach nośnych;

d. Zdolne do działania w trybie z syntezą apertury (SAR), z odwróconą syntezą apertury (ISAR) albo jako radiolokatory pokładowe obserwacji bocznej (SLAR);

e. Zaopatrzone w "sterowany elektronicznie fazowany układ antenowy";

f. Zdolne do określania wysokości niepowiązanych ze sobą celów;

Uwaga: Pozycja 6A008.f nie obejmuje kontrolą urządzeń radiolokacyjnych dokładnej kontroli podejścia do lądowania (PAR) odpowiadających standardom ICAO;

g. Przeznaczone specjalnie dla lotnictwa (zainstalowane na balonach lub samolotach) i mające możliwość "przetwarzania sygnałów" dopplerowskich w celu wykrywania obiektów ruchomych;

h. Zdolne do przetwarzania sygnałów radiolokacyjnych następującymi technikami:

1."Rozproszonego widma radiolokacyjnego"; lub

2."Regulacji częstotliwości sygnałów radiolokacyjnych";

i. Zapewniające działania naziemne o maksymalnym "zasięgu roboczym "powyżej 185 km;



Uwaga: Pozycja 6A008.i. nie obejmuje kontrolą:

a.radarów kontroli łowisk rybackich;

b.radarowych instalacji naziemnych specjalnie przeznaczonych do kierowania ruchem lotniczym, specjalnie opracowanych, aby spełniały wszystkie poniższe warunki:

1.ich maksymalny "zasięg roboczy" wynosi co najwyżej 500 km;

2.skonfigurowano je w taki sposób, że umożliwiają transmisję danych o celach radarowych tylko w jedną stronę, od miejsca zainstalowania radaru do jednego lub więcej cywilnych ośrodków ATC (kierowania ruchem lotniczym).

3.nie zawierają żadnych elementów umożliwiających zdalne sterowanie szybkością przeszukiwania radaru z ośrodka ATC; oraz

4.mają być zainstalowane na stałe.

c.meteorologicznych, balonowych radiolokatorów śledzących.

j. Radary "laserowe" lub optyczne (LIDAR'y), mające jedną z poniższych cech charakterystycznych:

1. Parametry "klasy kosmicznej"; lub

2. Zastosowanie koherentnych heterodynowych lub homodynowych technik wykrywania obiektów oraz posiadanie rozdzielczości kątowej poniżej (lepszej niż) 20 μrad (mikroradianów);



Uwaga: Pozycja 6A008.j. nie obejmuje kontrolą urządzeń LIDAR'owych specjalnie przeznaczonych do badań lub do obserwacji meteorologicznych.

k. Wyposażone w podukłady do "przetwarzania sygnałów" techniką "kompresji impulsów" posiadające jedną z poniższych cech charakterystycznych:

1. Wskaźnik "kompresji impulsów" powyżej 150; lub

2. Szerokość impulsu poniżej 200 ns; lub

l. Wyposażone w podukłady do przetwarzania danych umożliwiające realizację jednej z poniższych funkcji:

1."Automatyczne śledzenie celu" zapewniające, przy dowolnym położeniu kątowym anteny, przewidzenie położenia celu w okresie pomiędzy kolejnymi przejściami wiązki radiolokacyjnej;



Uwaga: Pozycja 6A008.l.1 nie obejmuje kontrolą układów ostrzegających przed możliwością zderzenia, wchodzących w skład systemów kontroli ruchu powietrznego albo morskiego lub portowego.

2. Obliczanie prędkości celu za pomocą radaru głównego, o nieperiodycznych (zmiennych) częstotliwościach przeszukiwania;

3. Przetwarzanie danych do automatycznego rozpoznawania typu (wychwytywanie cech charakterystycznych) i porównywania z charakterystycznymi parametrami znajdującymi się w bazie danych (w postaci kształtu fal albo obrazów) w celu identyfikacji lub klasyfikacji obiektu; lub

4. Superpozycję (nakładanie) i korelację lub scalanie danych o celu z dwóch lub więcej "współpracujących czujników radarowych""rozrzuconych geograficznie" w celu wzmocnienia i wyodrębnienia celów.



Uwaga: Pozycja 6A008.l.4 nie obejmuje kontrolą systemów, urządzeń lub zespołów używanych do kontroli ruchu na morzu.

6A102'Detektory' zabezpieczone przed promieniowaniem, różne od wymienionych w pozycji 6A002, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do ochrony przed skutkami wybuchów jądrowych (np. impulsów elektromagnetycznych (EMP), promieniowania rentgenowskiego, kombinowanych efektów podmuchu i udaru termicznego) i znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych", skonstruowane lub przystosowane w taki sposób, że są w stanie wytrzymać łączną dawkę promieniowania o wartości 5 × 105 radów (Si).



Uwaga techniczna:

W pozycji 6A102 przez pojęcie detektora należy rozumieć urządzenie mechaniczne, elektryczne, optyczne lub chemiczne, do automatycznej identyfikacji i rejestracji takich bodźców, jak zmiany warunków otoczenia, np. ciśnienie lub temperatura, sygnał elektryczny lub elektromagnetyczny albo promieniowanie materiału radioaktywnego. Obejmuje to urządzenia, które wykrywają bodziec poprzez jednorazowe zadziałanie albo uszkodzenie się.

6A107Następujące grawimetry i podzespoły do mierników grawitacji i mierników gradientu pola grawitacyjnego:

a. Grawimetry różne od wymienionych w pozycji 6A007.b, zaprojektowane lub zmodyfikowane do stosowania w lotnictwie lub w warunkach morskich, posiadające dokładność statyczną lub eksploatacyjną (roboczą) równą lub niższą (lepszą) niż 7 × 10-6 m/s2 (0,7 miligala) przy czasie do ustalenia warunków rejestracji równym lub krótszym od 2 minut;

b. Specjalnie zaprojektowane podzespoły do grawimetrów wymienionych w pozycjach 6A007.b lub 6A107.a oraz do mierników gradientu pola grawitacyjnego wymienionych w pozycji 6A007.c.

6A108Następujące instalacje radarowe i śledzące, różne od wymienionych w pozycji 6A008:

a. Instalacje radarowe lub laserowe przeznaczone lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do stosowania w kosmicznych pojazdach nośnych wymienionych w pozycji 9A004 lub w rakietach meteorologicznych wymienionych w pozycji 9A104.



Uwaga: Pozycja 6A108.a obejmuje następujące obiekty:

a.Urządzenia do wykonywania map konturowych terenu;

b.Urządzenia czujnikowe obrazów;

c.Urządzenia do wykonywania i korelacji obrazów terenu (analogowe i cyfrowe);

d.Urządzenia do radarowej nawigacji doplerowskiej;

b. Następujące precyzyjne instalacje do śledzenia torów obiektów, znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych":

1. Instalacje do śledzenia torów, wyposażone w translatory kodów współpracujące z instalacjami naziemnymi lub nadziemnymi albo satelitarnymi instalacjami nawigacyjnymi w celu pomiaru w czasie rzeczywistym położeń i prędkości obiektów w locie;

2. Radary kontroli obszaru powietrznego współpracujące z instalacjami śledzenia obiektów w zakresie optycznym i podczerwonym, posiadające wszystkie wymienione poniżej cechy charakterystyczne:

a. Rozdzielczość kątową lepszą niż 3 miliradiany (0,5 mils);

b. Zasięg 30 km lub większy z rozdzielczością odległości lepszą niż 10 m (średnia kwadratowa);

c. Dokładność ustalania prędkości lepszą od 3 m/s.

Uwaga techniczna:

Termin "pocisk rakietowy" w pozycji 6A108b oznacza kompletną instalację rakietową i systemy bezzałogowych statków powietrznych o zasięgu powyżej 300 km.

6A202Lampy fotopowielaczowe mające wszystkie następujące cechy:

a. powierzchnię fotokatody powyżej 20 cm2; oraz

b. czas narastania impulsu katody poniżej 1 ns.

6A203Następujące kamery filmowe i ich podzespoły, różne od wymienionych w pozycji 6A003:

a. Następujące kamery z wirującym zwierciadłem napędzanym mechanicznie oraz specjalnie do nich przeznaczone podzespoły:

1. Kamery filmowe z kadrowaniem z szybkością powyżej 225000 klatek zdjęciowych na sekundę;

2. Kamery smugowe z prędkościami zapisu powyżej 0,5 mm na mikrosekundę;



Uwaga: W pozycji 6A203.a do podzespołów kamer tego typu zalicza się specjalnie skonstruowane elektroniczne elementy synchronizujące oraz specjalne zespoły wirników składające się z turbinek, zwierciadeł i łożysk.

b. Następujące elektroniczne kamery i lampy smugowe i obrazowe:

1. Elektroniczne kamery smugowe o rozdzielczości czasowej 50 ns lub mniejszej;

2. Lampy smugowe do kamer wymienionych w poz. 6A203.b.1;

3. Kamery elektroniczne (albo z elektroniczną migawką) o czasie naświetlania 50 ns lub krótszym.

4. Następujące lampy obrazowe i półprzewodnikowe urządzenia obrazowe do kamer filmowych wymienionych w pozycji 6A203.b.3:

a. Lampy wzmacniające ogniskowanie obrazów zbliżeniowych, posiadające fotokatodę w postaci warstwy osadzonej na przezroczystej powłoce przewodzącej w celu zmniejszenia jej oporności;

b. Lampy wzmacniające na bramkach wykonanych w technologii SIT (silicon intensifier target), w których szybki układ umożliwia bramkowanie fotoelektronów z fotokatody przed ich uderzeniem w płytkę SIT;

c. Migawki elektrooptyczne z fotokomórkami działającymi na zasadzie efektu Kerra lub Pockela; lub

d. Inne lampy obrazowe oraz półprzewodnikowe urządzenia obrazowe o czasie bramkowania szybkich obrazów poniżej 50 ns, specjalnie przeznaczone do kamer filmowych wymienionych w pozycji 6A203.b.3.

c. Kamery telewizyjne zabezpieczone przed promieniowaniem oraz soczewki do nich, skonstruowane lub przystosowane w taki sposób, że są w stanie wytrzymać promieniowanie o natężeniu powyżej 50 × 103 Gy (Si) [5 × 106 rad (Si)] bez pogorszenia własności eksploatacyjnych, oraz specjalnie do nich przeznaczone soczewki.

Uwaga techniczna:

Termin Gy(silikon) odnosi się do energii w Jooulach na kilogram wchłoniętej przez nieosłoniętą próbkę krzemową po wystawieniu na działanie promieniowania jonizującego.

6A205Następujące "lasery", wzmacniacze "laserowe" i oscylatory, różne od wymienionych w pozycjach 0B001.g.5, 0B001.h.6 i 6A005:

a. Lasery na jonach argonu mające obydwie wymienione cechy:

1. pracujące w zakresie fal o długościach pomiędzy 400 nm a 515 nm; i

2. przeciętną moc wyjściową powyżej 40 W;

b. Przestrajalne, impulsowe oscylatory na laserach barwnikowych pracujące w trybie pojedynczym, mające wszystkie następujące cechy:

1. pracujące w przedziale długości fal od 300 nm do 800 nm;

2. przeciętną moc wyjściową powyżej 1 W;

3. częstotliwości powtarzania powyżej 1 kHz; i

4. impuls o długości poniżej 100 ns;

c. Przestrajalne, impulsowe wzmacniacze i oscylatory na laserach barwnikowych, mające wszystkie następujące cechy:

1. pracujące w przedziale długości fal od 300 nm do 800 nm;

2. przeciętną moc wyjściową powyżej 30 W;

3. częstotliwości powtarzania powyżej 1 kHz; i

4. impuls o długości poniżej 100 ns;

Uwaga: Pozycja 6A205.c. nie obejmuje oscylatorów pracujących w trybie pojedynczym;

d. Impulsowe "lasery" na dwutlenku węgla, mające wszystkie następujące cechy:

1. pracujące w przedziale długości fal od 9000 nm do 11000 nm;

2. częstotliwości powtarzania powyżej 250 Hz;

3. przeciętnej mocy wyjściowej powyżej 500 W; oraz

4. szerokości impulsu poniżej 200 ns;

e. Przekształtniki na parawodorze działające w paśmie Ramana, przeznaczone do pracy na fali 16-mikrometrowej z częstotliwością powtarzania powyżej 250 Hz.

f. Wzbudzane impulsowo "lasery modulowane dobrocią", domieszkowane neodymem (z wyjątkiem szkła), posiadające wszystkie poniższe parametry:

1. wyjściową długość fali powyżej 1000 nm, ale nieprzekraczającą 1100 nm;

2. czas trwania impulsu równy lub większy niż 1 ns; oraz

3. wyjście w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego ze średnią mocą wyjściową ponad 50 W.

6A225Interferometry do pomiaru prędkości w zakresie powyżej 1 km/s w odstępach czasowych poniżej 10 mikrosekund.



Uwaga: Pozycja 6A225 obejmuje doplerowskie interferometry laserowe, jak VISAR'y, DLI itp.

6A226Następujące czujniki ciśnienia:

a. Czujniki wykonane z manganinu z przeznaczeniem do pomiaru ciśnień powyżej 10 GPa; lub

b. Kwarcowe przetworniki ciśnień do pomiarów ciśnień powyżej 10 GPa.



6BUrządzenia testujące, kontrolne i produkcyjne

6B004Następujące urządzenia optyczne:

a. Urządzenia do pomiaru absolutnego współczynnika odbicia z dokładnością ± 0,1 % wartości odbicia;

b. Urządzenia różne od optycznych urządzeń do pomiaru rozpraszania powierzchni, posiadające nieprzysłoniętą aperturę o wielkości powyżej 10 cm, specjalnie przeznaczone do bezstykowych pomiarów optycznych figur o przestrzennych (nieplanarnych) powierzchniach optycznych (profili) z "dokładnością" 2 nm lub większą (lepszą) na danym profilu.



Uwaga: Pozycja 6B004 nie obejmuje kontrolą mikroskopów.

6B007Urządzenia do produkcji, strojenia i wzorcowania grawimetrów lądowych o dokładności statycznej lepszej niż 0,1 miligal;

6B008Systemy do impulsowych pomiarów radarowego przekroju czynnego o szerokościach impulsu przesyłowego 100 ns lub mniejszych oraz specjalnie dla nich przeznaczone elementy.

NB.: SPRAWDŹ TAKŻE POZYCJĘ 6B108.

6B108Systemy specjalnie przeznaczone do pomiarów radarowego przekroju czynnego znajdujące zastosowanie w "pociskach rakietowych" i ich podzespołach, różne od wymienionych w pozycji 6B008.



6CMateriały

6C002Następujące materiały do czujników optycznych:

a. Tellur pierwiastkowy (Te) o poziomie czystości równym lub wyższym niż 99,9995 %;

b. Pojedyncze kryształy następujących substancji (włącznie z epitaksjalnymi płytkami);

1. Tellurku kadmu i cynku (kadmowo-cynkowego) (CdZnTe), o zawartości cynku mniej niż 6 % w 'ułamku molowym';

2. Tellurku kadmu (CdTe) o dowolnym poziomie czystości; lub

3. Tellurku kadmu i rtęci (kadmowo-rtęciowego) (HgCdTe) o dowolnym poziomie czystości.

Uwaga techniczna:

'Ułamek molowy' definiowany jest jako stosunek moli ZnTe do sumy moli CdTe i ZnTe znajdujących się w krysztale.

6C004Następujące materiały optyczne:

a."Półprodukty podłoży" z selenku cynku (ZnSe) i siarczku cynku (ZnS) wytwarzane techniką osadzania z par lotnych, mające jedną z następujących właściwości:

1. O objętości powyżej 100 cm3; lub

2. O średnicy większej niż 80 mm i grubości równej lub większej niż 20 mm;

b. Kęsy następujących materiałów elektrooptycznych:

1. Arsenianu potasu i tytanylu (potasowo-tytanylowy) (KTA);

2. Selenku srebra i galu (srebrowo-galowy) (AgGaSe2);

3. Selenku talu i arsenu (talowo-arsenowego) (Tl3AsSe3, znanego również pod nazwą TAS);

c. Nieliniowe materiały optyczne o następujących parametrach:

1. Wrażliwość trzeciego rzędu (chi 3) równa 10-6m2/V2 lub lepsza; oraz

2. Czas reakcji poniżej 1 ms;

d."Półprodukty podłoży" z osadzonym węglikiem krzemu lub beryl-beryl (Be/Be) o średnicy lub długości osi głównej powyżej 300 mm;

e. Szkło, włącznie ze stopioną krzemionką, szkło fosforanowe, fluorofosforanowe, z fluorku cyrkonu (ZrF4) i fluorku hafnu (HfF4) mające wszystkie z następujących właściwości:

1. Stężenie jonów hydroksylowych (OH-) poniżej 5 ppm (części na milion);

2. Zawartość wtrąceń metalicznych poniżej 1 ppm; oraz

3. Wysoka jednorodność (wahania współczynnika załamania światła) poniżej 5 × 10–6;

f. Wytwarzany syntetycznie materiał diamentowy o współczynniku pochłaniania poniżej 10-5 cm–1 dla fal o długościach powyżej 200 nm, ale nie dłuższych niż 14000 nm;

6C005Następujące półprodukty do "laserów" na kryształach syntetycznych:

a. Szafir domieszkowany tytanem;

b. Aleksandryt.

6DOprogramowanie

6D001"Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do "rozwoju" lub "produkcji" urządzeń objętych kontrolą według pozycji 6A004, 6A005, 6A008 lub 6B008.

6D002"Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do "użytkowania" urządzeń objętych kontrolą według pozycji 6A002.b, lub 6A008 lub 6B008.

6D003Następujące inne oprogramowanie:

a.

1."Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do kształtowania wiązek akustycznych do "przetwarzania w czasie rzeczywistym" danych akustycznych pochodzących z pasywnego odbioru za pomocą holowanego zespołu hydrofonów;



2."Kod źródłowy" do "przetwarzania w czasie rzeczywistym" danych akustycznych pochodzących z pasywnego odbioru za pomocą holowanego zespołu hydrofonów;

3."Oprogramowanie" specjalnie opracowane do formowania wiązek akustycznych do "przetwarzania w czasie rzeczywistym" danych akustycznych w celu biernej detekcji za pomocą dennych lub przybrzeżnych układów kablowych;

4."Kod źródłowy" do "przetwarzania w czasie rzeczywistym" danych akustycznych dla biernej detekcji dla dennych lub przybrzeżnych układów kablowych;

b.

1."Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do systemów kompensacji pola magnetycznego i elektrycznego do czujników magnetycznych przeznaczonych do pracy na ruchomych platformach;



2."Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do wykrywania anomalii pola magnetycznego i elektrycznego na ruchomych platformach;

c."Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone do korygowania wpływu oddziaływań związanych z ruchem na grawimetry i mierniki gradientu pola grawitacyjnego;

d.

1."Programy" aplikacyjne "oprogramowania" do Kontroli Ruchu Powietrznego zainstalowane na komputerach ogólnego przeznaczenia w centrach Kontroli Ruchu Powietrznego, umożliwiające realizację jednej z wymienionych poniżej funkcji:



a. Przetwarzanie i wyświetlanie równocześnie ponad 150 "ścieżek systemowych"; lub

b. Przyjmowanie danych radiolokacyjnych o obiektach z więcej niż czterech radarów pierwotnych;

2."Oprogramowanie" do projektowania lub "produkcji" kopuł anten radiolokatorów, które:

a. Są specjalnie przeznaczone do ochrony "sterowanych elektronicznie fazowanych układów antenowych" objętych kontrolą według pozycji 6A008.e.; oraz

b. Wpływają na charakterystykę promieniowania anteny, mając 'przeciętny poziom listków bocznych' większy niż 40 dB poniżej wartości szczytowych wiązki głównej.

Uwaga techniczna:

'Przeciętny poziom listków bocznych' w pozycji 6D003.d.2.b mierzony jest dla całego układu, pomijając rozpiętość kątową wiązki głównej i pierwsze dwa listki boczne z każdej strony.

6D102"Oprogramowanie" specjalnie przeznaczone lub zmodyfikowane do "użytkowania""wyrobów" wymienionych w pozycji 6A108.

6D103"Oprogramowanie" do obróbki (po zakończeniu lotu) danych zebranych podczas lotu, umożliwiające określenie położenia pojazdu w każdym punkcie toru jego lotu, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane dla "pocisków rakietowych".

Uwaga techniczna:

"Pocisk rakietowy" w pozycji 6D103 odnosi się do kompletnych systemów rakietowych i bezzałogowych statków powietrznych o zasięgu powyżej 300 km.

6ETechnologia

6E001"Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "rozwoju" urządzeń, materiałów lub "oprogramowania" objętych kontrolą według pozycji 6A, 6B, 6C lub 6D.

6E002"Technologie" według uwagi ogólnej do technologii do "produkcji" urządzeń lub materiałów objętych kontrolą według pozycji 6A, 6B lub 6C.

6E003Następujące inne technologie:

a.

1."Technologie" wytwarzania i obróbki powłok na powierzchniach optycznych "niezbędne" do osiągnięcia jednorodności 99,5 % lub lepszej na powłokach optycznych o średnicy lub długości osi głównej wynoszącej 500 mm lub więcej i całkowitego współczynnika strat (pochłanianie i rozpraszanie) poniżej 5 × 10–3;



NB.: Sprawdź także pozycję 2E003.f.

2."Technologie" wytwarzania elementów optycznych wykorzystujące jednoostrzowe techniki diamentowania, umożliwiające wygładzanie powierzchni z dokładnością lepszą niż 10 nm (wartość średnia kwadratowa) na powierzchniach niepłaskich o polu powyżej 0,5 m2;

b."Technologie""niezbędne" do "rozwoju", "produkcji" lub "użytkowania" specjalnie zaprojektowanych instrumentów diagnostycznych lub obiektów w urządzeniach testujących specjalnie przeznaczonych do testowania instalacji "urządzeń laserowych bardzo wysokiej mocy" (SHPL) albo testowania lub oceny materiałów napromienionych wiązką z tych systemów;

6E101"Technologie" według Uwagi ogólnej do technologii do "użytkowania" urządzeń lub "oprogramowania" objętych kontrolą według pozycji 6A002, 6A007.b i c., 6A008, 6A102, 6A107, 6A108, 6B108, 6D102 lub 6D103.



Uwaga: Pozycja 6E101 obejmuje wyłącznie "technologie" do urządzeń wymienionych w pozycji 6A008 w razie jej przeznaczenia do stosowania w lotnictwie i możliwości zastosowania w "pociskach rakietowych".

6E201"Technologie" według uwagi ogólnej do technologii do "użytkowania" urządzeń wymienionych w pozycjach 6A003, 6A005.a.1.c, 6A005.a.2.a, 6A005.c.1.b, 6A005.c.2.c.2, 6A005.c.2.d.2.b, 6A202, 6A203, 6A205, 6A225 lub 6A226.




Pobieranie 1.57 Mb.

1   ...   10   11   12   13   14   15   16   17   18




©absta.pl 2020
wyślij wiadomość

    Strona główna