Uwaga Kolokwium zaliczeniowe z Zaawansowanych Metod Badań Materiałów odbędzie się 23 maja (czwartek) o godz. 12. 15 w sali 010a na kolokwium obowiązują problemy I zagadnienia omawiane na wykładach I wykorzystywane podczas ćwiczeń



Pobieranie 22.96 Kb.
Data02.05.2016
Rozmiar22.96 Kb.
Uwaga
Kolokwium zaliczeniowe z Zaawansowanych Metod Badań Materiałów odbędzie się 23 maja (czwartek) o godz. 12.15 w sali 010a B8 . Na kolokwium obowiązują problemy i zagadnienia omawiane na wykładach i wykorzystywane podczas ćwiczeń laboratoryjnych.

Do dnia 13 czerwca należy zaliczyć wszystkie laboratoria (sprawozdania) oraz uzyskać pozytywną ocenę z kolokwium zaliczeniowego.

Zaliczenie przedmiotu na podstawie pozytywnych ocen z każdego bloku tematycznego oraz pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego a także wpisy ocen odbędą się w dniach 17.06 w sali 3.21 oraz 18.06 w sali -1.24A (w terminach ćwiczeń) w B8. Grupy środowe proszone są o przyjście w dogodnym dla nich terminie na poniedziałkowe lub wtorkowe ćwiczenia, z uwagi na obowiązujący w środę plan zajęć z piątku.



Dr inż. Anna Adamczyk


Zagadnienia do kolokwium zaliczeniowego:



Mikroskopia elektronowa


  1. Podstawy mikroskopii optycznej

  2. Konstrukcja skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM)

  3. Fizyczne podstawy działania skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) – sposoby powstawania obrazu. Zakres zastosowań. Różnice pomiędzy mikroskopia optyczną a elektronową.

  4. Preparatyka próbek dla skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM)

  5. Analiza EDS – podstawy fizyczne, rodzaje analizy.

  6. Transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM) – fizyczne zasady działania, sposoby powstawania obrazu, zakres zastosowań.

  7. Jonowa mikroskopia polowa (FIM) – fizyczne zasady działania, zakres zastosowań.

  8. Mikroskop sił atomowych (AFM) - fizyczne zasady działania, zakres zastosowań.


Mikroskopia AFM


  1. Zastosowanie mikroskopów z skanującą sondą.

  2. Zasada działania mikroskopu AFM

  3. Rozdzielczość metody a wielkość stosowanych sond.

  4. Tryby pracy mikroskopu AFM.


Metody termiczne


  1. Możliwości pomiarowe zestawu do badań termofizycznych materiałów ceramicznych. Wyznaczanie podstawowych parametrów termodynamicznych wybranego materiału.



  • Ogólna charakterystyka metod wybranych metod analizy termicznej: termicznej analizy różnicowej, różnicowej kalorymetrii skaningowej i termograwimetrii.

  • Na czym polega stało-szybkościowa analiza termiczna CRTA?

  • Rodzaj informacji dostarczanych przez wybrane metody analizy termicznej: termiczną analizę różnicową, różnicową kalorymetrię skaningową i termograwimetrię.

  • Charakterystyka krzywej termicznej DTA/DSC.

  • Charakterystyka substancji odniesienia i substancji wzorcowej.

  • Ogólna charakterystyka kalibracji temperaturowej i kalibracji czułości aparatów do DTA i DSC.

  • Oznaczanie ciepła właściwego.

  • Oznaczanie ciepła rekacji.



  1. Wyznaczanie przewodnictwa cieplnego wybranych materiałów.



  • Ogólna charakterystyka dyzyjności cieplnej.

  • Ogólna charakterystyka liniowego współczynnika rozszerzalności termicznej.

  • Ogólna charakterystyka przewodnictwa cieplnego.

  • Podstawowe sposoby przenoszenia energii cieplnej.

  • Wpływ podstawowych czynników na przewodnictwo cieplne ciał stałych, ciekłych i gazowych.

  • Metody wyznaczania współczynnika przewodzenia ciepła, ze szczególnym uwzględnieniem metody impulsu laserowego.


Rentgenografia





  1. Struktura ciała stałego:

-ciało stałe amorficzne i krystaliczne,

–uporządkowanie bliskiego i dalekiego zasięgu



  1. Rentgenowskie promieniowanie charakterystyczne:

    • jak powstaje,

    • sposoby monochromatyzacji

- zjawiska towarzyszące przejściu promieni X przez materię.

  1. Warunek dyfrakcji promieni X – równanie Bragga.

  2. Natężenie refleksu a czynnik struktury.

  3. Podział metod rentgenograficznych w zależności od rodzaju badanego materiału i stosowanego promieniowania.

  4. Zasada działania dyfraktometru proszkowego dwukołowego.

  5. Dyfraktogram substancji amorficznej i krystalicznej.

  6. Opis dyfraktogramu, parametry charakteryzujące refleks.

  7. Podstawy rentgenowskiej analizy jakościowej:

    • wyznaczanie położenia refleksów,

    • karty identyfikacyjne substancji

  8. Podstawy rentgenowskiej analizy ilościowej:

    • metoda wzorca wewnętrznego

    • przygotowanie próbki

    • sposoby wyznaczania intensywności refleksu

    • czynniki wpływające na niedokładność analizy

  9. Obliczenia strukturalne:

    • wyznaczanie parametrów komórki elementarnej – potrzebne wielkości i wzory,

    • badanie składu i zakresu występowania roztworów stałych w oparciu o prawo Vegarda,

    • rodzaje roztworów stałych.

  10. Informacje o materiale otrzymane na bazie różnych parametrów refleksu:

    • położenie,

    • intensywność

    • szerokość połówkowa.

  11. Możliwości badawcze metod rentgenograficznych.


Spektroskopia oscylacyjne w podczerwieni (IR)
Teoria IR

– Widmo promieniowania elektromagnetycznego;

– Opis oddziaływania promieniowania z materią wykorzystywany spektroskopii w podczerwieni;

– Dlaczego absorpcja jest selektywna? (główne przyczyny i wzory);

– Funkcje, jednostki i zakresy używane w spektroskopii IR;

– Co to jest interpretacja pochodzenia pasm w kategoriach drgań walencyjnych;

– Drgania normalne (co to są, dlaczego niektóre nie objawiają się pasmami na widmie IR? (co wpływa na pozycję a co na intensywność, co to jest wygaszenie momentu dipolowego);

– Typowa kolejność drgań walencyjnych na widmie w podczerwieni dla zadanego układu trzech atomów (, , , , , );

– Ruch atomów w prostych drganiach walencyjnych , , , , , . (umieć narysować, co to jest drganie oddychające).
Sprzęt i technika pastylkowa

– Technika pastylkowa (materiały, sprzęt, zasady pomiaru, artefakty związane z ucieraniem, ilość próbki, itd.);

– Opis otrzymanego wykresu (osie, używane jednostki, rozdzielczość, przyczyny nierównej linii podstawy, itd.);

– Budowa i zasada działania spektrometru FT-IR (co to znaczy FT-IR, co to znaczy „jednowiązkowy”, główne części i zasady działania: interferometr, źródło, detektor, zalety próżni, rola komputera itd.);

– Problem stosunku sygnału do szumu (czym się różni szum od zanieczyszczeń i skąd pochodzi, co to jest skan, dlaczego zakres pomiaru nie wpływa na czas pomiaru).
Obróbka widma

– Tabele korelacji a bazy danych (czym się różnią, analiza próbki o składzie wielofazowym);



– Określanie ilości i pozycji pasm (dlaczego używa się różnie wygładzonych drugich pochodnych, do czego służy dekompozycja, kiedy rozkład złożonej obwiedni ma sens fizyczny).




©absta.pl 2019
wyślij wiadomość

    Strona główna